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技術(shù)指標:
溫度測試范圍:a、高溫:60℃~200℃;b、低溫:-10℃ ~ -70℃;
解析精度:1.溫度:0.1℃。
控制精度:±2℃。
溫度波動度:±2℃。
溫度均勻度:±3℃。(空載測試)
蓄熱區(qū)升溫時間:自常溫至200℃,約40分鐘。
蓄冷區(qū)降溫時間:自常溫至-70℃,約60分鐘;
測試區(qū)溫度恢復(fù)時間:二溫區(qū)沖擊 5KG IC負載約2分鐘;
機器結(jié)構(gòu)與材質(zhì):
結(jié)構(gòu):分為高溫區(qū)、低溫區(qū);
內(nèi)外箱材質(zhì):SUS#304耐熱耐寒不銹鋼板;
測試區(qū)尺寸:50㎝× 50㎝× 60㎝(W×H×D);