TWS藍(lán)牙射頻生產(chǎn)測(cè)試平臺(tái)是深加博公司專為TWS這類設(shè)備設(shè)計(jì)的整機(jī)測(cè)試解決方案。專為晶片組設(shè)計(jì)的一站式(Turnkey)RF測(cè)試解決方案。配合各類測(cè)試儀器能讓客戶以最少的工程量發(fā)揮迅速的量產(chǎn)能力。
TWS-ATE測(cè)試平臺(tái)重點(diǎn):
綜合 DUT 控制,兼容DUT Mode及Direct Test Mode
一對(duì)多并行
多種型號(hào)測(cè)試儀控制
數(shù)據(jù)存檔和分析的數(shù)據(jù)日志記錄支持
通過(guò)直觀的用戶界面實(shí)現(xiàn)測(cè)試計(jì)劃的設(shè)定
易于使用的制造測(cè)試操作界面
TWS-ATE 測(cè)試成品藍(lán)牙射頻性能(依照藍(lán)牙射頻測(cè)試規(guī)范執(zhí)行測(cè)試)
TWS-ATE 支援的測(cè)試項(xiàng)目包括:
輸出功率
頻率偏移
調(diào)制特性
功率控制
載波漂移
輸入電平
單時(shí)隙靈敏度
多時(shí)隙靈敏度
一站式的解決方案
對(duì)芯片組參考設(shè)計(jì)進(jìn)行全面測(cè)試并與關(guān)鍵的芯片組公司一起進(jìn)行驗(yàn)證。顯著減少工程開(kāi)發(fā)周期而不會(huì)犧牲質(zhì)量。
優(yōu)化的性能
基于芯片組及儀器原廠認(rèn)證API開(kāi)發(fā)的并行測(cè)試系統(tǒng),以確保測(cè)試和校準(zhǔn)例程是進(jìn)行優(yōu)化的,以減少時(shí)間并實(shí)現(xiàn)產(chǎn)量。
可由用戶配置
測(cè)試列表、條件和限制等均可配置。
友好的用戶界面
簡(jiǎn)潔的用戶界面,自動(dòng)調(diào)用測(cè)試計(jì)劃并可顯示良品率。
內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄
日志文件采用通用 CSV 格式,便于導(dǎo)出分析。
技術(shù)支持
快速高效的技術(shù)支持,包括遠(yuǎn)程支持和現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用服務(wù)。
TWS-ATE 測(cè)試方案可用于任何采用藍(lán)牙技術(shù)的地方。其中包括:
智能手機(jī)
平板電腦
藍(lán)牙耳機(jī)
藍(lán)牙音響
WLAN / 藍(lán)牙 SiP (系統(tǒng)級(jí)封裝)設(shè)備
啟用藍(lán)牙的物聯(lián)網(wǎng)
支援的測(cè)試儀器:
IQxel-M
MT8852B
CMW270
CMW500
CBT32
N4010A