產(chǎn)品應(yīng)用
• VCSEL光芯片的可靠性驗(yàn)證測試
• SFP、QSFP、QSFP-DD等封裝的COB老化前后對比測試
產(chǎn)品特點(diǎn)
• 兼容PSS模塊老化板,可一站式完成COB老化、測試
• 模塊及協(xié)議兼容性強(qiáng),支持SFP、QSFP、QSFP28封裝;100G、200G、400G的測試
• 大面積PD收光,收光角度模擬分析,保證功率測試重復(fù)性
• ???????支持雙工位PD同時(shí)測試,提升測試效率
• ???????支持Ith、SE等參數(shù)測試,一致性高,重復(fù)性高
• ???????支持COB 調(diào)試,DDMI信息獲取
• ???????支持老化前后對比,便于分析芯片可靠性
• 支持COB固件燒錄,方便客戶操作
參 數(shù) | 指 標(biāo) |
支持模塊類型 | SFP、QSFP、QSFP-DD等封裝(可定制) |
老化板測試數(shù)量(不同功率數(shù)量不一致,可定制) | SFP類型:28PCS |
多路并行測試 | 支持并行測試 |
單板電流驅(qū)動(dòng)能力(功率) | 100G SR4 ≤3.5W |
兼容協(xié)議 | SFF8472、SFF8436、CMIS4.0 |
功率探測范圍 | 0-10mw,1%FS±50uW |
測試效率(取決于用戶ith掃描時(shí)間) | 1min/COB,12min/Pannel,UPH:>60PCS(QSFP)1.5min/COB,4.5min/Pannel,UPH:>40PCS(QSFP-DD) |
測試參數(shù) | 支持PI曲線,Ibisa、Po、Ith、老化前后?Ith、老化前后?Po |
VCC電壓 | 范圍:3~3.6V,精度:0.1%FS±4mV |
一致性 | Ith<1%、Power<1%(Ith一致性取決于COB的電流精度) |
電源 | AC200V~240V,50HZ |
尺寸(L*W*H) | 820mm*560mm*835mm |