太陽能電池硅片檢查顯微鏡55C-DCB可對太陽電池生產(chǎn)過程中每個環(huán)節(jié)產(chǎn)生的表面缺陷進(jìn)行細(xì)微的檢查和測量。不僅可以檢查太陽能電池表面顏色色差,絨面色斑,亮斑,裂紋,穿孔,崩邊,掉角,缺口,印刷偏移;主、副柵線、背電極的斷線,缺損,扭曲,變色等缺陷。還可對雜質(zhì)、殘留物成分進(jìn)行分析.雜質(zhì)包括: 顆粒、有機(jī)雜質(zhì)、無機(jī)雜質(zhì)、金屬離子、硅粉粉塵等,造成磨片后的硅片易發(fā)生變花、發(fā)藍(lán)、發(fā)黑等現(xiàn)象,同時可以測量太陽能電池片裂紋長度,崩邊長度角度,印刷位移角度偏差以及主、副柵線,背電極的寬度、均勻度,柵線間距離及副柵線到電池邊的距離,柵線、斷線長度,斷線缺損和變色的面積等。系統(tǒng)配置了優(yōu)質(zhì)無限遠(yuǎn)光路系統(tǒng)的三目金相顯微鏡XJ-52C、500萬高清晰數(shù)字?jǐn)z像頭及圖像測量管理軟件,可對太陽能電池板圖像進(jìn)行檢查、拍照、測量、編輯和保存輸出等多種操作。是太陽能電池硅片檢查的理想儀器。
性能特點:
1、顯微鏡采用了優(yōu)質(zhì)的光路設(shè)計,使成像更清晰
2、配置了落射照明裝置、視場光欄和孔徑光欄、同時配有偏光裝置
3、可以測量太陽能電池片裂紋長度,崩邊長度角度,印刷位移角度偏差
4、可以測量主、副柵線,背電極的寬度、均勻度,柵線間距離及副柵線到電池邊的距離, 柵線、斷線長度,斷線缺損和變色的面積
5、可以檢查太陽能電池表面顏色色差,絨面色斑,亮斑,裂紋,穿孔,崩邊,掉角,缺口,印刷偏移主副柵線、背電極的斷線,缺損,扭曲,變色等現(xiàn)象。
6、可對雜質(zhì)、殘留物成分進(jìn)行分析.雜質(zhì)包括: 顆粒、有機(jī)雜質(zhì)、無機(jī)雜質(zhì)、金屬離子、硅粉粉塵等
規(guī)格參數(shù):
一、系統(tǒng)配置:
序號 | 配置名稱 | 主要規(guī)格參數(shù) |
1 | 三目透反射金相顯微鏡XJ-52C | 50-800X |
2 | 500萬高清數(shù)字?jǐn)z像頭PZ-500M | 500萬像素 |
3 | 攝像接口MCL | 1X或者0.5X |
4 | 圖像測量管理軟件 | 具有單張、定時采集圖像、錄像、顯示比例尺、測量、圖像拼接,融合等功能,并可以連接多媒體、打印、等多種輸出方式。 |
5 | 聯(lián)想臺式機(jī)(選購) | XP、win7系統(tǒng),內(nèi)存1G以上,獨(dú)立顯卡512M以上,PCI插槽 |
6 | 佳能打印機(jī)(選購) | 彩色激光打印機(jī) |
二、顯微鏡技術(shù)參數(shù):
序號 | 名稱 | 技術(shù)參數(shù) |
01 | 平場目鏡 | 大視野 WF10X(Φ18mm) |
02 | 長距平場物鏡 | PLL5X/0.12、10X/0.25、20X/0.40、40X/0.60、80X/0.80 |
03 | 總放大倍數(shù) | 50X-800X |
04 | 觀察頭 | 三目鏡,傾斜30?,(內(nèi)置檢偏振片,可進(jìn)行切換) |
05 | 轉(zhuǎn)換器 | 五孔 (外向式滾珠內(nèi)定位) |
06 | 粗微調(diào)調(diào)焦范圍 | 粗微動同軸調(diào)焦, 微動格值0.7μm, 粗動松緊可調(diào),帶鎖緊和限位裝置 |
07 | 載物臺 | 三層機(jī)械移動式尺寸: 250mmX230mm,移動范圍: 154mmX154mm |
08 | 光瞳距離 | 53-75mm |
09 | 濾色片 | 藍(lán)、磨砂 |
10 | 落射照明系統(tǒng) | 6V 20W鹵素?zé)?亮度可調(diào) |
帶視場光欄、孔徑光欄、起偏振片,(黃,藍(lán),綠)濾色片和磨砂玻璃 | ||
11 | 儀器重量 | 凈重11.0公斤 毛重12.5公斤 |
12 | 儀器尺寸 | 儀器尺寸42X45X45(cm) 包裝尺寸45X50X50(cm) |