X熒光光譜儀在無損檢測方面,具有其他剖析技能無法比較的長處,應用X射線光譜儀掃描辦法探測土壤表層下面的是元素是X射線無損檢側技能的一個主要使用范疇。
X熒光光譜儀在無損檢測方面,具有其他剖析技能無法比較的長處,應用X射線光譜儀掃描辦法探測土壤表層下面的是元素是X射線無損檢側技能的一個主要使用范疇,X熒光光譜儀根據(jù)有手持和臺式兩種,所采用的都是X熒光光譜儀的原理,X熒光光譜儀由激發(fā)源和探測系統(tǒng)構成,根據(jù)各元素的特征X射線的強度,也可以獲得各元素的含量信息。
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X熒光光譜儀是一種較新型的可以對多元素進行同時測定的儀器,在X射線激發(fā)下,被測元素原子的內(nèi)層電子發(fā)生能級躍遷而發(fā)出次級X射線(即X熒光),波長和能量是從不同的角度來觀察描述X射線所采用的兩個物理量。

X熒光光譜儀是一種無損的,應用廣泛的光譜分析儀器,X熒光光譜儀由激發(fā)源和探測系統(tǒng)構成,X射線管產(chǎn)生入射X射線,激發(fā)被測樣品,受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線,并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。
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