X熒光光譜儀可對(duì)固體、粉末、液體、懸浮物、過(guò)濾物、大氣飄塵、薄膜樣品等進(jìn)行定性、定量剖析,元素局限13Al-92U,含量局限ppb至,檢出限到2pg,X熒光光譜儀在無(wú)損檢測(cè)方面,具有其他剖析技能無(wú)法比較的長(zhǎng)處,應(yīng)用X射線(xiàn)光譜儀掃描辦法探測(cè)土壤表層下面的是元素是X射線(xiàn)無(wú)損檢側(cè)技能的一個(gè)主要使用范疇。
X熒光光譜儀根據(jù)其分光原理不同分成波長(zhǎng)色散型X熒光光譜儀(波譜儀,WDXRF)和能量色散型X熒光光譜儀(能譜儀,EDXRF),我們通常所說(shuō)的X熒光光譜儀就是指波長(zhǎng)色散的儀器,X熒光光譜儀可對(duì)固體、粉末、液體、懸浮物、過(guò)濾物、大氣飄塵、薄膜樣品等進(jìn)行定性、定量剖析,元素局限13Al-92U,含量局限ppb至,檢出限到2pg。
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X熒光光譜儀是一種無(wú)損的,應(yīng)用廣泛的光譜分析儀器,X熒光光譜儀由激發(fā)源和探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成,X射線(xiàn)管產(chǎn)生入射X射線(xiàn),激發(fā)被測(cè)樣品,受激發(fā)的樣品中的每一種元素會(huì)放射出二次X射線(xiàn),并且不同的元素所放射出的二次X射線(xiàn)具有特定的能量特性或波長(zhǎng)特性。
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X熒光光譜儀是一種的、非破壞式的物質(zhì)測(cè)量方法,X射線(xiàn)熒光是用高能量X射線(xiàn)或伽瑪射線(xiàn)轟擊材料時(shí)激發(fā)出的次級(jí)X射線(xiàn),這種現(xiàn)象被廣泛用于元素分析和化學(xué)分析,特別是在金屬,玻璃,陶瓷和建材的調(diào)查和研究,地球化學(xué),法,考古學(xué)和藝術(shù)品,例如油畫(huà)和壁畫(huà)。
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