手持光譜儀是一種基于XRF(X Ray Fluorescence,X射線熒光)光譜分析技術(shù)的光譜分析儀器，主要由X光管、探測(cè)器、CPU以及存儲(chǔ)器組成，由于其便攜具有便攜、準(zhǔn)確等特點(diǎn)，使其在合金、礦石、環(huán)境、消費(fèi)品等領(lǐng)域有著重要的應(yīng)用。尤其適合于不銹鋼材料的牌號(hào)確認(rèn)以及定量測(cè)量元素。
手持式光譜儀在使用的時(shí)候，對(duì)于環(huán)境也是有一定的要求，不要在潮濕的環(huán)境下工作的，環(huán)境濕度0-95%之間為好，不能在太高溫下操作工作，這樣的理由是避免各類磁場(chǎng)的干擾，如此儀器分析的時(shí)候才能檢測(cè)出更的精度。所以，大家在工作的時(shí)候要注意環(huán)境的適合度，很多時(shí)候儀器檢測(cè)不標(biāo)準(zhǔn)跟環(huán)境還是有很大程度上的關(guān)系。

手持式光譜儀用于的定量定性分析：
手持式光譜儀是一種功能強(qiáng)大,并且可擴(kuò)展的手持式光譜儀,廣泛用于金屬材料的成分分析,牌號(hào)鑒別和分選.它包括激發(fā)和配有可充電電池的光譜儀主機(jī)兩部分.它工作時(shí),既不需要?dú)鍤?也不需要放射源。 1、原理：手持式光譜儀屬于熒光光譜,實(shí)驗(yàn)室用的直讀屬于火花直讀光譜,是激發(fā)源不同 2、精度：手持式光譜儀主要用于定性分析,實(shí)驗(yàn)室用的火花直讀光譜主要用于定量分析 3、分析范圍：手持式光譜儀可分析金屬及礦石,并且可分析一些火花直讀無(wú)法激發(fā)的基體,例如鋯基體；實(shí)驗(yàn)室直讀光譜儀雖然分析的基體比手持式的少,但是相同基體里分析的元素種類比手持式的要多。

手持合金光譜儀可分析黑色金屬、有色金屬、合金的化學(xué)成分，能幫助客戶在質(zhì)量控制、材料分類、合金鑒別、防范、事故調(diào)查等現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用領(lǐng)域中，進(jìn)行合號(hào)鑒別、金屬成分分析，獲得準(zhǔn)確、可靠的分析檢測(cè)結(jié)果。 現(xiàn)場(chǎng)無(wú)損檢測(cè)。擁有廣泛、可自定義牌號(hào)庫(kù)，保證合金鑒別。

手持式光譜儀是一種基于XRF光譜分析技術(shù)的光譜分析儀器，當(dāng)能量高于原子內(nèi)層電子結(jié)合能的高能X射線與原子發(fā)生碰撞時(shí),驅(qū)逐一個(gè)內(nèi)層電子從而出現(xiàn)一個(gè)空穴,使整個(gè)原子體系處于不穩(wěn)定的狀態(tài),當(dāng)較外層的電子躍遷到空穴時(shí),產(chǎn)生一次光電子，擊出的光子可能再次被吸收而逐出較外層的另一個(gè)次級(jí)光電子，發(fā)生俄歇效應(yīng),亦稱次級(jí)光電效應(yīng)或無(wú)效應(yīng)。所逐出的次級(jí)光電子稱為俄歇電子。當(dāng)較外層的電子躍入內(nèi)層空穴所釋放的能量不被原子內(nèi)吸收,而是以光子形式放出,便產(chǎn)生X 射線熒光，其能量等于兩能級(jí)之間的能量差。因此，射線熒光的能量或波長(zhǎng)是特征性的,與元素有一一對(duì)應(yīng)的關(guān)系。由Moseley定律可知，只要測(cè)出熒光X射線的波長(zhǎng),可以知道元素的種類,這是熒光X射線定性分析的基礎(chǔ)。此外,熒光X射線的強(qiáng)度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系,據(jù)此,可以進(jìn)行元素定量分析。X射線探測(cè)器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號(hào)轉(zhuǎn)換成易于測(cè)量的電信號(hào)來(lái)得到待測(cè)元素的特息。
手持式光譜分析儀 產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：
 1、一鍵式開機(jī)并檢測(cè)。 2、一體式供電，解決了電腦缺電造成測(cè)試數(shù)據(jù)丟失的風(fēng)險(xiǎn)。 3、只需開機(jī)一次。（超長(zhǎng)待機(jī)無(wú)需關(guān)閉電源，無(wú)檢測(cè)操作時(shí)自動(dòng)待機(jī)，同時(shí)光管及探測(cè)器斷電停止工作） 4、自動(dòng)關(guān)機(jī)（自定義長(zhǎng)時(shí)間未進(jìn)行檢測(cè)操作）