吉時(shí)利KEITHLEY2602數(shù)字源表
回收數(shù)字源表:
Keithley 2400,Keithley 2401,Keithley 2410,
Keithley 2420,Keithley 2425 Keithley 2430,
Keithley 2440,Keithley 2440-C,Keithley 2601A,
Keithley 2602A,Keithley 2611A,Keithley 2612A,
Keithley 2635A,Keithley 2636A,Keithley 2651A
Keithley 2400-C,keithley 2400-LV,Keithley 2410-C,
Keithley 2420-C,Keithley 2425-C,Keithley 2430-C,
Keithley 2601B,Keithley 2602,Keithley 2602B,
Keithley 2604B,Keithley 2611B,Keithley 2612,
Keithley 2612A,Keithley 2612B,Keithley 2614B,
Keithley 2634B,Keithley 2635,Keithley 2635A,
Keithley 2635B,Keithley 2636A,Keithley 2636B,
Keithley 2600,Keithley 2600A,Keithley 2600B,
吉時(shí)利2602 主要特點(diǎn)及優(yōu)點(diǎn):
·一個(gè)緊湊的單元中綜合了如下功能:精密電壓源、高精度電流源、數(shù)字多用表、任意波形發(fā)生器、電壓或電流脈沖發(fā)生器、電子負(fù)載以及觸發(fā)控制器
·接觸檢測(cè)功能確保了高速及準(zhǔn)確的測(cè)量
·每秒10,000個(gè)讀數(shù)和5,500個(gè)源-測(cè)量點(diǎn)記錄到存儲(chǔ)器,提供了更快速的測(cè)試
·內(nèi)置的測(cè)試腳本處理器(TSP?)提供非并行系統(tǒng)的自動(dòng)化測(cè)試,將I-V測(cè)試的速度提高到同類產(chǎn)品的二到四倍
·吉時(shí)利2600系列提供寬動(dòng)態(tài)范圍:1pA到10A,1μV到200V
·TSP-Link?主/從控制架構(gòu)將多臺(tái)2600數(shù)字源表無縫地整合成一個(gè)系統(tǒng),將其作為一立的儀器進(jìn)行編程和控制
·免費(fèi)的測(cè)試腳本編輯軟件--Test Script Builder,可以輕松地創(chuàng)建功能強(qiáng)大的測(cè)試腳本,實(shí)現(xiàn)用戶特定的測(cè)試功能
·免費(fèi)的LabTracerTM2.0 軟件,無需編程直接得到半導(dǎo)體I-V 特性曲線,易學(xué)易用
·每個(gè)40W,3A的通道都是獨(dú)立的,從而保證了高度的測(cè)量完整性和配置的靈活性
·業(yè)界的SMU機(jī)架密度特別適合自動(dòng)化測(cè)試的應(yīng)用
吉時(shí)利2602數(shù)字源表給電子元器件和半導(dǎo)體制造商提供了一個(gè)靈活的、高效的、性價(jià)比的方案,適合于***DC、脈沖和低頻AC的源-測(cè)量測(cè)試?;?/span>***初吉時(shí)利2400系列數(shù)字源表的緊湊集成源-測(cè)量技術(shù),吉時(shí)利2600系列儀器在I-V測(cè)試應(yīng)用中 能夠提供相當(dāng)于同類產(chǎn)品的二到四倍的測(cè)試速度。它們還具備更高的源測(cè)量通道密度并且比同類產(chǎn)品顯著地降低了使用成本。的模數(shù)轉(zhuǎn)換器在小于100μs的時(shí)間內(nèi) 可同時(shí)提供I和V測(cè)量值 (10,000 讀數(shù)/s),源-測(cè)量掃描速度為200μs每點(diǎn) (5,500 點(diǎn)/s)。這種高速的源-測(cè)量能力加上的自動(dòng)化特性及軟件工具使得吉時(shí)利2600系列數(shù)字源表系列成為廣泛用于多種器件I-V測(cè)試的理想方案。
KEITHLEY2602數(shù)字源表 相關(guān)應(yīng)用:
對(duì)多種器件進(jìn)行I-V函數(shù)測(cè)試和特性分析,包括:
·分立的和無源的元器件
·雙引腳 - 電阻、盤驅(qū)動(dòng)器頭、金屬氧化物變阻器(MOV)、二極管、齊納二極管、傳感器、電容器、熱敏電阻
·三引腳 - 雙極型小信號(hào)晶體管(BJT)場(chǎng)效應(yīng)晶體管(FET)等
·并行測(cè)試 – 雙引腳、三引腳元器件陣列
·簡(jiǎn)單集成電路 – 光學(xué)、驅(qū)動(dòng)器、開關(guān)、傳感器
·集成的器件-小規(guī)模集成(SSI)和大規(guī)模集成(LSI)
·模擬IC
·射頻集成電路(RFIC)
·應(yīng)用定制的集成電路
·系統(tǒng)級(jí)芯片(SOC)器件
·光電器件如發(fā)光二極管(LED)、激光二極管、高亮度LED(HBLED)、垂直共振腔面射型激光器(VCSEL)、顯示器
·上述器件的研發(fā)和特性分析
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