產(chǎn)品特點(diǎn):
?損耗測(cè)試功能
- 測(cè)試長(zhǎng)度最長(zhǎng)50m
- 空間分辨率高達(dá)20um
- 回?fù)p測(cè)試靈敏度可達(dá)-130dB
- 回?fù)p測(cè)試動(dòng)態(tài)范圍80dB
- 揑損測(cè)試動(dòng)態(tài)范圍15dB
- 可提供全套硬、軟件解決方案
- 測(cè)試長(zhǎng)度最長(zhǎng)100m
- 空間分辨率可達(dá)1mm@50m
- 可提供全套硬、軟件解決方案
- 光子芯片傳輸損耗測(cè)量
- 芯片內(nèi)損耗事件定位分析
- 光組件內(nèi)部光鏈路損耗分析
- 芯片內(nèi)光鏈路延時(shí)測(cè)量
- 分布式光纖應(yīng)變、溫度傳感
- 3D光纖形狀傳感系統(tǒng)研發(fā)
技術(shù)指標(biāo) | 單位 | TranCT-215 |
損耗測(cè)試功能 | ||
中心波長(zhǎng) | nm | 1550 |
掃描范圍 | nm | 40 |
波長(zhǎng)精度 | pm | 0.1 |
光鏈路測(cè)試長(zhǎng)度 | m | 50 |
空間分辨率 | um | 20 |
回?fù)p測(cè)試范圍 | dB | 0~-125 |
回?fù)p靈敏度 | dB | -130 |
回?fù)p動(dòng)態(tài)范圍 | dB | 80 |
回?fù)p測(cè)量分辨率 | dB | 0.1 |
回?fù)p測(cè)量精度 | dB | ±0.5 |
插損動(dòng)態(tài)范圍 | dB | 15 |
插損分辨率 | dB | 0.1 |
插損精度 | dB | ±0.2 |
測(cè)試頻率 | Hz | 1 |
傳感功能 | ||
空間分辨率 | mm | 1@50m,10@100m |
應(yīng)變測(cè)量范圍 | u? | ±15000 |
應(yīng)變測(cè)量精度 | u? | ±5 |
溫度測(cè)量范圍 | ℃ | -200~1200 |
溫度測(cè)量精度 | ℃ | ±0.2 |
測(cè)試通道數(shù) | - | 標(biāo)準(zhǔn)1,可定制 |
單次測(cè)試時(shí)間 | s | 5 |