太陽能組件EL檢測儀
ZQ150
u 采用2400萬像素相機
u 測試速度快，測試周期達到5S/PCS
u 高清顯示器： 43英寸屏幕
u 模塊化設計：兼容小組件測試
u 帶蓋設計
產(chǎn)品介紹
ZQ150系列缺陷檢測用于太陽能晶體硅組件/電池片的缺陷檢測與維修，可人工對缺陷進行標記，保存在本地或遠端數(shù)據(jù)庫中，PC控制軟件可通過以太網(wǎng)接口實現(xiàn)與客戶系統(tǒng)對接，傳輸測試結(jié)果和報警信息，并可依據(jù)客戶需求定制功能。
性能特點
u 操作簡單
采用無蓋設計，無需開蓋合蓋，操作方便，層壓前利于返修檢測
u 半自動化測試
在離線模式時，可加裝滑軌，提高人工測試效率
u 可測缺陷
黑心片、微隱裂、裂片、破洞、斷柵、焊接缺陷等
u 測試圖片
技術(shù)指標
設備型號 | ZQ150 |
生產(chǎn)指標 | |
產(chǎn)能 | 5s/pcs（離線典型值） |
max可測面積 | 2400mm×1400mm |
適用工序 | 層壓前、后組件測試 |
上料方式 | 手動 |
測量指標 | |
相機分辨率 | 2400W |
相機類型 | COMS |
曝光時間 | 1~30S（可調(diào)） |
顯示器 | 43英寸屏幕 |
電源類型 | 可調(diào)電源 |
電壓范圍 | 0~60V連續(xù)可調(diào) |
電流范圍 | 0~20A連續(xù)可調(diào) |
缺陷類型 | 正常檢測:隱裂/碎片/低效率片/燒結(jié)網(wǎng)紋/材料缺陷/斷柵 |
圖像處理 | EL圖像顯示：圖像放大、條碼顯示、缺陷標記 圖像處理：增益、灰度、亮度、對比度調(diào)節(jié) |
