DIT雙色測溫儀：采用雙色測溫方法，即通過目標(biāo)物體輻射的兩個(gè)紅外波段的能量比值來確定被測物體的溫度。因測量結(jié)果取決于兩個(gè)波段輻射功率之比，所以，輻射能量的部分損失對測量結(jié)果沒有影響?？煽朔鬏斀橘|(zhì)有灰塵、煙霧、水汽，視場局部遮擋和測量距離變化造成的輻射能量衰減而引起的測量誤差，特別適用于相對惡劣的測溫環(huán)境。
金屬熱加工過程中，金屬表面不可避免會(huì)快速氧化形成氧化層，氧化層會(huì)隨溫度變化脫落或者皴裂（例如軋鋼生產(chǎn)線），皴裂氧化皮和金屬本體形成間隙，使得氧化層的溫度低于金屬本體溫度。雙色測溫儀可以很好的克服因此引起的測量誤差。使得生產(chǎn)工藝數(shù)據(jù)可靠且離散性小，便于工藝分析。
比色測溫對于真空或保護(hù)氣體加熱系統(tǒng)也具有優(yōu)勢，可以克服玻璃窗口材料引起的測量誤差，讓測量值更接近真值。
DIT雙色測溫儀具有目視瞄準(zhǔn)系統(tǒng)，非常方便用戶安裝及實(shí)時(shí)查看測溫儀是否對準(zhǔn)目標(biāo)。對于密封環(huán)境的測量系統(tǒng)，目視瞄準(zhǔn)還可以作為爐內(nèi)工況的觀察窗口。
DIT雙色測溫儀具有豐富的功能，實(shí)時(shí)高亮溫度測量值顯示，用戶可選測量方式，測量模式，測溫速度，輸出規(guī)格設(shè)置。滿足客戶各種現(xiàn)場使用需求。人機(jī)交互簡單，方便。
單色溫度計(jì)在使用過程中，會(huì)遇到以下幾種原因引起的測量誤差：
1、材料氧化表面狀態(tài)發(fā)生改變，或者氧化物和原始材料開裂而引起較大的測量誤差。
2、材料本身發(fā)射率較低而引起的測量誤差。
3、測量環(huán)境惡劣（粉塵，煙霧，水蒸氣等）而引起的測量誤差。
4、測量孔徑不能滿足測溫儀的視場需求而引起的測量誤差。
基本參數(shù)：
測量溫度范圍及響應(yīng)波長：
DIT-6H3 1000-3000℃ 0.4-1.1μm（鎢鉬材料真空設(shè)備 科研試驗(yàn)）
測量精度：±0.75%FS
重復(fù)精度：0.2%
分 辨 率：0.5℃
響應(yīng)時(shí)間：<15ms
光學(xué)參數(shù)：
透鏡類型：雙膠合透鏡
探 測 器：SI
測量距離：0.56m-∞
距離系數(shù)：280:1
可測最小目標(biāo)：2mm
電氣參數(shù)：
供電電源：24VDC（±20％，500mA）
模擬輸出：0-5V /0-20mA /4-20mA
數(shù)字輸出：RS485（選配）
功耗：<1.2W
絕緣電壓：≤500VAC
負(fù)載能力：≤300Ω
操作參數(shù)及執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：
環(huán)境溫度：＜60℃
相對濕度：10-95%,無冷凝25-45℃
物理尺寸：Φ58×183mm
重量：0.8kg
機(jī)械沖擊：GB/T2423.8-1995
熱 沖 擊：GB/T2423.1，GB/T2423.2
抗干擾標(biāo)準(zhǔn)：JB/T9233.11-1999
