技術(shù)參數(shù) 探測(cè)器配置 ●高靈敏電制冷SiLi探測(cè)器技術(shù),儀器免維護(hù)和*運(yùn)行,壽命達(dá)15年以上(可選用:液氮SiLi 探測(cè)器) ●*的分辨率: 電制冷SiLi 探測(cè)器 晶體面積15mm2 分辨率<155ev (可選用: 液 氮SiLi 探測(cè)器 晶體面積30mm2 分辨率<149ev) ●超大SiLi 晶體,*的痕量分析的靈敏度,打破lng的檢測(cè)限壁壘X-光管 ●50KV,50瓦,*流端窗X-射線管,具有*束流。高穩(wěn)定,壽命可達(dá)15年以上 ●多濾光片技術(shù),8位濾光片可根據(jù)分析對(duì)象元素,有效探測(cè).可清晰分辨相鄰 元素 數(shù)據(jù)采集 ● 全數(shù)字脈沖處理器技術(shù),死時(shí)間達(dá)60%,以及優(yōu)異的峰背比,*的提高分析速度及精度 ● 采用多道(32位4096道)脈沖分析器,*的提高分析精度及其速度 ● 超大樣品室,可容納305mm×389mm×66mm的樣品增高室可選215mm或371mm ● 全自動(dòng)校準(zhǔn),自動(dòng)監(jiān)測(cè),自動(dòng)報(bào)警系統(tǒng),*計(jì)算機(jī)控制 ● 鍍層和薄膜測(cè)量技術(shù), 具有無(wú)標(biāo)樣分析測(cè)厚技術(shù) ● 方便快捷的運(yùn)輸和移動(dòng) ● 高性能,操作簡(jiǎn)便WinTrace軟件 |
主要特點(diǎn) ● 分析元素范圍 Na-U ● 分析元素的濃度范圍 ppm— ● 整機(jī)穩(wěn)定性連續(xù)8小時(shí)測(cè)RSD<0.25% ● 高級(jí)FP無(wú)標(biāo)樣分析軟件,無(wú)標(biāo)樣條件下誤差小于1%。減少對(duì)標(biāo)樣的依賴性 ● ROHS/WEEE檢測(cè)時(shí)間100-120秒 ● 樣品類(lèi)型: 固體,液體,粉末,濾渣,鍍層及其他 |
ARL QUANT''X 應(yīng)用領(lǐng)域: ● 應(yīng)對(duì)RoHS & WEEE 指令分析 ● 各種金屬膜厚度測(cè)量、工業(yè)鍍層厚度測(cè)量 ● 氣溶膠顆粒濾膜, 刑偵以及痕量分析 ● 土壤、催化劑、礦石、原材料成份分析等 ● 營(yíng)養(yǎng)添加劑 ,各種油品成份分析等 ● 磁性磁性介質(zhì)和半導(dǎo)體,各種合金、貴金屬成份分析 |