HN2600MX/C旗艦型電路在線維修測試系統(tǒng)

數(shù)字通道：40路 +8路隔離總線競爭數(shù)字通道 
數(shù)字通道電平范圍：多邏輯電平±15V內(nèi)可調(diào)，滿足全系列數(shù)字器件測試；
模擬通道：160路 +4路ASA動態(tài)巡檢通道 +4路觸發(fā)脈沖通道（八種觸發(fā)模式）
模擬通道電壓范圍：±28V內(nèi)以0.5V步距可調(diào)，雙通道屬性
外供電源：3.3V/4A； +5V/4A；－5V/2A；±12V/2A；程控加電；過流保護；
通訊接口：標準USB接口，支持熱插拔,可運行在Windows XP、Vista系統(tǒng)
性能測試：集成電路、分立元件 離線主要直流參數(shù)檢測（用于器件篩選）

一、技術(shù)應(yīng)用特點：
◇ 雙處理器技術(shù)：集成16位的下位機，擁有獨立的CPU系統(tǒng)，
                 不受計算機Windows分時特性的影響，獨立運行；
◇ 標準的USB2.0通訊接口：與計算機通訊安全、快速、便捷，支持熱插拔；
安全穩(wěn)定運行于的Windows Viste/XP/NT系統(tǒng)內(nèi)，
◇ 測試儀軟、硬件與計算機技術(shù)同步發(fā)展延伸；
雙               ◇ 探棒/雙板/雙測試夾直接對比測試，適用于相同電路板診斷測試；
◇ 后驅(qū)動（Backdoor）技術(shù)：引進美國后驅(qū)動隔離技術(shù)，
用來實現(xiàn)數(shù)字器件之間在線（In-circuit）的隔離；
◇ 自適應(yīng)測試技術(shù)：自動識別被測試電路的自身連接情況并自動修改相應(yīng)的測試代碼，
確立測試條件，保證測試的準確性；
◇ 數(shù)字器件的閾值電平可調(diào)：在工業(yè)標準值下可以通過測試，逐步提高門檻到極限值，
可發(fā)現(xiàn)器件參數(shù)型故障（軟故障）；
◇ ASA（Analog Signature Analysis）模擬特征分析技術(shù)：
引入ASA技術(shù)用來解決端口模擬特征曲線故障診斷分析測試；
◇ 三端器件（三極管、穩(wěn)壓管、可控硅、場效應(yīng)管等）的測試：
引入八種觸發(fā)脈沖與掃描信號同步測試三端器件；
◇ 電容C、電阻R、電感L定性定量的測試：
在一定的掃描電壓、電流、頻率下可測試電容量（阻抗、電感量）及漏電阻值；
◇ 對測試數(shù)據(jù)圖形化顯示、開啟計算機聲音提示功能：
當測試在允許的誤差范圍內(nèi)，系統(tǒng)將聲音提示以降低工作強度；
◇ 自動識別靈敏度調(diào)整（自動選檔功能）：
自動識別調(diào)整測試輸入阻抗，匹配*的測試參數(shù)，以降低操作難度。
二、主要技術(shù)指標： 
1．操作系統(tǒng)：支持 WIN98/WIN2000/WINXP/VISTA操作系統(tǒng)。
    2．通訊接口：標準的USB接口。
    3．數(shù)字測試通道： 40通道，支持驅(qū)動電平 ±（1～15）V。
    4．數(shù)字通道電平范圍：±15V內(nèi)全邏輯電平通道。
    5．模擬測試通道： 160路（雙屬性通道）。
    6．總線隔離數(shù)字通道： 8通道。
    7．后驅(qū)動電流： ≥300 mA。
    8．數(shù)字通道測試速度： 1～610 Ktv/S
    9．在線提取數(shù)字器件管腳狀態(tài): 13種。
    10．數(shù)字器件的閾值電平：
TTL、CMOS5、CMOS12、ECL、EIA、3.3V緊/松調(diào)節(jié)；自定義調(diào)節(jié)。
    11.程控外供電源（自動控制、自保護功能）：
3.3V/2A、5V/4A、 -5V/2A、+12V/2A、-12V/2A。  
    12．電源加電延遲時間：（0.5～7）秒 6檔可選。
    13．測試探棒: 2組8個測試口。
    14．模擬信號掃描電壓幅度： ±1V～±28V, 步距0.5V可調(diào)。
    15．VI分辨率： 8～128點/周期。
    16．輸出阻抗匹配： 100Ω / 1KΩ／10KΩ／100KΩ可選。
    17．模擬通道zui大測試頻率: 2.6KHZ。
    18．脈沖發(fā)生器脈沖幅度： ±1V～±28V。
    19．電路板網(wǎng)絡(luò)測試通/斷閾值： 25Ω±5Ω。
    20．腳踏開關(guān)：支持。 
 21、模擬通道zui大測試頻率:       16KHZ;
 22、ASA(VI)測試頻率匹配:   1HZ～16KHZ,共30檔可選;
 23、脈沖發(fā)生器脈沖幅度：   ±1V～±28V;
 
24、脈沖發(fā)生器發(fā)生方式:    8種
   
            ① P1方式：正的直流電平；
   ② P2方式：負的直流電平；
③ P1+方式：正脈沖，由0度開始，寬度為N×1/64π；
④ P1-方式：負脈沖，由π開始，寬度為N×1/64π；
⑤ P2+方式：正脈沖，結(jié)束于π，寬度為N×1/64π；
⑥ P2-方式：負脈沖，結(jié)束于2π，寬度為N×1/64π；
⑦ P1+與P1-方式：P1+與P1-方式的組合；
⑧ P2+與P2-方式：P2+與P2-方式的組合。
注：寬度中的N≤64，可設(shè)置。 
 25、電路板網(wǎng)絡(luò)測試通/斷閾值：   25Ω±5Ω;
 26、連線提取一次操做的器件數(shù)：  5個元器件。
27. 離線性能測試：可精確檢測全系列邏輯器件的性能：檢測邏輯器件的輸入、輸出漏流及帶負載能力，主要測試Voh、Vol、Ioh 、Iol、Vih、Vil、Iih、Iil、Iozh、Iozl等參數(shù)?？蓽y試出功能是好的、性能不好，上機后電路板不能正常工作的芯片；