ICT33C+ 集成電路測試儀

ICT33C+ 集成電路測試儀產(chǎn)品特點(diǎn)： 

 1．工作原理：
    ICT33C+集成電路測試儀是以器件預(yù)期響應(yīng)法為指導(dǎo)思想，以單片機(jī)智能化為結(jié)構(gòu)的多功能測試儀器。它以MCS51單片機(jī)為核心，配合大規(guī)模軟件和外圍擴(kuò)展系統(tǒng)來全面模擬被測器件的綜合功能。儀器的設(shè)計(jì)基礎(chǔ)立足于這樣的原則：在數(shù)字集成電路眾多參數(shù)中，邏輯功能是zui重要，zui根本，zui能說明問題的參數(shù)。

2．系統(tǒng)主要構(gòu)成：
（1） CPU：MCS51系列產(chǎn)品89C52；主頻：11.059M。
（2） 程序存儲(chǔ)器：128K  EPROM。
（3） RAM緩沖區(qū)：128K靜態(tài)RAM。
（4） 顯示器：8位液晶顯示器。
（5） 操作鍵盤：20位輕觸式按鍵鍵盤。
（6） 輸出：七只LED+八位液晶顯示+聲音提示。
（7） 機(jī)箱：全塑結(jié)構(gòu)機(jī)箱。
 

ICT33C+ 集成電路測試儀技術(shù)規(guī)格：

（1）       電源電壓：AC220V±15%，50HZ。
（2）       整機(jī)功耗：15VA。
（3）       測試電壓：3.3V，5.0V，9.0，15V。
（4）       編程電壓：12.5V，21V。
（5）       zui大測試腳數(shù)：DIP封裝40腳；SOP封裝20腳（須另購適配器）。
（6）       型號(hào)輸入位數(shù)：3——6位。
（7）       適用溫度：0——40℃。
（8）       測試規(guī)范：輸入短路測試；輸出短路測試；功能測試。
（9）       輸出高電平
VOH：大于2.8V
（VT=5.0V）。
（10）   
輸出低電平VOL：小于0.7V
（VT=5.0V）。
（11）   
輸入高電平VIH：大于4.5V
（VT=5.0V）。
（12）   
輸入低電平VIL：小于0.2V
（VT=5.0V）。
ICT33C+具有以下主要用途：
（1）       維修各類電子產(chǎn)品，判斷其集成電路故障。
（2）       破譯被抹去型號(hào)集成電路的真實(shí)型號(hào)。
（3）       燒寫各類EPROM、EEPROM、FLASH ROM、單片機(jī)片內(nèi)ROM。
（4）       開發(fā)各類智能電子產(chǎn)品，調(diào)試程序。
（5）       檢驗(yàn)新購器件的質(zhì)量。