OSP厚度測(cè)量?jī)x，儀器通過(guò)分析可見(jiàn)光譜中不同波長(zhǎng)的光譜分別在銅箔表面和OSP鍍層表面上反射后形成的新的關(guān)于波長(zhǎng)的數(shù)據(jù)信息來(lái)測(cè)量OSP鍍層的厚度。從OSP鍍層表面反射的光線與從基層銅箔表面反射的光線相互干涉從而形成新的干涉圖譜。該圖譜會(huì)形成與光強(qiáng)相關(guān)的振幅曲線，ST4080-OSP儀器通過(guò)分析該曲線的振幅和頻率以確定OSP鍍層厚度和完整性。
OSP薄膜測(cè)量?jī)x，l于測(cè)量PCB/PW板的銅鉑表面的OSP厚度。作為使用分光反射法的非破壞性光學(xué)測(cè)量?jī)x，它可提供平均厚度和詳細(xì)的3D平面輪廓資料，使得實(shí)時(shí)檢測(cè)無(wú)需任何的樣品制備。
由于ST4080-OSP具有測(cè)量很小面積與自動(dòng)聚焦功能，適用于PCB基板表面的實(shí)模式。ST4080-OSP基于科美公司的厚度測(cè)量技術(shù)，而它在半導(dǎo)體，平板顯示與其他電子材料行業(yè)方面的可靠性得到了證實(shí)。
為什么要選擇 ST4080-OSP?
ST4080-OSP使用反射測(cè)量法提供PCB/PWB表面OSP涂層厚度的非接觸和非破壞性實(shí)時(shí)測(cè)量。
ST4080-OSP 無(wú)需樣品制備，可確?？焖俸秃?jiǎn)便操作。
ST4080-OSP測(cè)量的光斑尺寸可減小到0.135，這使得它可測(cè)量表面粗糙的銅的OSP涂層厚度.
ST4080-OSP 與紫外可見(jiàn)分光計(jì)，受迫離子束方法，時(shí)序電化學(xué)還原分析還有其他的測(cè)量方法相比較，它基于更可靠的測(cè)量技術(shù)。
ST4080-OSP 可獲取420nm~640nm范圍內(nèi)的多波長(zhǎng)光譜。
ST4080-OSP可提供各點(diǎn)和它們的平均厚度的詳細(xì)數(shù)據(jù)，這樣可幫助人們更好地控制OSP質(zhì)量。
ST4080-OSP 通過(guò)3D表面形態(tài)學(xué)將測(cè)量程序*化。
在電路行業(yè)，有機(jī)可焊性保護(hù)膜（OSP）涂層的使用對(duì)保護(hù)銅表面防止氧化是必需的。
關(guān)于RoHS指令，該保護(hù)膜涂層要求無(wú)鉛適用，易加工和低成本。它的標(biāo)準(zhǔn)厚度測(cè)量范圍是0.1~0.5μm。
ST4080-OSP 通過(guò)分析基板上薄膜表面的反射光和基板表面的反射光之間的光譜干涉來(lái)測(cè)量薄膜厚度。ST4080-OSP 同時(shí)測(cè)量多個(gè)光斑，并以輪廓形式顯示厚度測(cè)量結(jié)果。
ST4080-OSP有兩種光學(xué)透鏡。用戶(hù)可使用5倍的光學(xué)透鏡方便地進(jìn)入詳細(xì)模式的自選區(qū)域，再通過(guò)使用50倍的光學(xué)透鏡獲取詳細(xì)厚度輪廓。
波長(zhǎng)范圍 420nm ~ 640nm
厚度測(cè)量范圍 350 ~ 3
zui小光斑尺寸 1.35, 0.135
目標(biāo)面積 864X648 / 86.4X64.8
物鏡轉(zhuǎn)動(dòng)架 5X（spot size 20）, 50X（spot size 0.2）
測(cè)量層 1
固定樣臺(tái)面積 270mm（L） X 240mm（D）
Z軸再現(xiàn)性 ± 1
自動(dòng)Z裝置 Z direction Head Movement 深圳瑞環(huán)希望與廣大客戶(hù)建立更緊密的合作、提供更完善的服務(wù)，共同描繪美好的發(fā)展
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