技術(shù)參數(shù) 測量范圍：
1.適合測量各種固體、薄膜、纖維等；
3.ZETA電 勢：- 200 mV ~ +200 mV
4.電遷移率：-10μm?cm/sec?V ~ 10 μm?cm/sec?V
5.可配合自動滴定儀進行動態(tài)pH滴定測量
光 源：
雙固體激光，30 mW
探測器：
高性能光電倍增管
樣品池：
固體平板樣品池
主要特點 1.測量固液界面ZETA電位，惟一的應(yīng)用電泳光散射的技術(shù)；
2.操作簡單，方便快捷；
- 技術(shù)參數(shù)
-
測量范圍：
1.適合測量各種固體、薄膜、纖維等；
3.ZETA電 勢：- 200 mV ~ +200 mV
4.電遷移率：-10μm?cm/sec?V ~ 10 μm?cm/sec?V
5.可配合自動滴定儀進行動態(tài)pH滴定測量
光 源：
雙固體激光，30 mW
探測器：
高性能光電倍增管
樣品池：
固體平板樣品池
- 主要特點
-
1.測量固液界面ZETA電位，惟一的應(yīng)用電泳光散射的技術(shù)；
2.操作簡單，方便快捷；
3.靜態(tài)測量與動態(tài)測量；
4.待測樣品無須特別處理；
5通過探測粒子準(zhǔn)確推算表面ZETA電位；
6.分辨率高；
7.同時獲得粒子ZETA電位與固體表面ZETA電位；
- 儀器介紹
-
目前能測量固體或薄膜材料的液固介面ZETA電位的儀器很少。而應(yīng)用電泳
光散射的方法，測量液、固介面Zeta電位的儀器僅有貝克曼庫爾特公司
上市的DelsaNano系列。
DelsaNano C是目前惟一的應(yīng)用電泳光散射及動態(tài)光散射原理，同時提供
顆粒Zeta電位分布、固體及薄膜液-固表面Zeta電位分布和納米粒度分布的分
析儀。DelsaNnao通過特別設(shè)計的固體平板樣品池，有效精確地為固體材料、
纖維材料、薄膜材料等提供ZETA電位分析。為廣大的新材料研究、生產(chǎn)提供
*的、多用途的分析工具。
- 分析方法
- 1.表征固液介面穩(wěn)定性的新方法-固液介面Zeta電位
