我公司科研人員經(jīng)過連續(xù)技術(shù)攻關(guān), 在原有YB6500半導(dǎo)體分立器件自動測試系統(tǒng)基礎(chǔ)上, 自行研發(fā)出*臺igbt測試儀，圓滿解決了功率IGBT等新型半導(dǎo)體器件的全參數(shù)測試難題,*了國內(nèi)在半導(dǎo)體自動測試領(lǐng)域的空白，該項產(chǎn)品綜合技術(shù)指標(biāo)達(dá)到水平。目前我公司提供的該項新產(chǎn)品采用模塊式功放結(jié)構(gòu), 主極電流400A/500A/1000A/1250A可選, 2500A/5000A選項可以根據(jù)用戶需要定制。
該產(chǎn)品可測試IGBT參數(shù)包括了ICES, BVCES, IGESF, IGESR, VGETH, VGEON, VCESAT, ICON,VF, GFS,rCE等全直流參數(shù), 所有小電流指標(biāo)保證1%重復(fù)測試精度, 大電流指標(biāo)保證0.5%以內(nèi)重復(fù)測試精度, 達(dá)到目前國外進(jìn)口同類產(chǎn)品水平。
絕緣柵晶體管、IGBT測試儀參數(shù)及精度
| 電參數(shù)名稱 | 電壓范圍 | 電流范圍 | 分辨率 | 精度 |
| ICES IGESF IGESR | 0.10V- 2000V 0.10V - 20V（80V）（2） | 100nA（100pA）（1） - 50mA 100nA（100pA）（1）- 3A | 1nA（50pA）（1） | 1%+10nA+20pA/V （1%+200pA+2pA/V）（1） |
| BVCES | 0.1V-1000V- 1400V - 1600V | 100μA - 200mA -100mA -50mA | 5mV | 1%＋100mV |
| VGETH | 0.10V- 20.0V（80V）（2） | 100nA- 3A | 5mV | 1%+10mV |
| VCESAT ICON VGEON VF GFS（混合參數(shù)） | VCE: 0.10V- 5.00V - 9.99V VGE、VF: 0.10V - 9.99V | IC: 10μA-1250A - 1250A IGE、IF: 100nA - 10A | 5mV | V: 1%+10mV IC,IF: 1%+100nA IGE: 1%+5nA |
（1） 需要YB550選件
（2） 需要柵極80V選件
該IGBT測試儀可針對目前封裝的多單元IGBT特征, 根據(jù)用戶需要提供4/ 8/ 20單元掃描測試適配器, 從而實現(xiàn)多單元封裝器件的一次性全參數(shù)測試.與進(jìn)口測試系統(tǒng)相比, 該產(chǎn)品可同時對各種功率的其它10-18多類半導(dǎo)體分立器件進(jìn)行全參數(shù)測試, 具有更高的使用效率。與國外同類產(chǎn)品相比, 該產(chǎn)品具有更高的性能價格比和國外廠家不能做到的優(yōu)質(zhì)售后服務(wù)。
主要特征簡述：
★YB半導(dǎo)體分立器件測試儀是我公司從國外引進(jìn)的國產(chǎn)化項目。該分立器件測試儀目前已通過國內(nèi)兩家計量站的綜合檢測認(rèn)定。經(jīng)過與國內(nèi)其他分立器件測試系統(tǒng)對比使用，YB測試系統(tǒng)在系統(tǒng)硬件的可靠性、穩(wěn)定性、功率范圍、測試范圍、系統(tǒng)測試精度、測試參數(shù)的*性等多項指標(biāo)已遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過國內(nèi)產(chǎn)品。 YB測試系統(tǒng)目前是國內(nèi)的半導(dǎo)體分立器件測試儀器。
★作為精密儀器引進(jìn)項目，YB半導(dǎo)體分立器件測試儀系統(tǒng)嚴(yán)格按照國軍標(biāo)產(chǎn)品之標(biāo)準(zhǔn)，全部選用優(yōu)質(zhì)可靠的元器件。系統(tǒng)嚴(yán)格按照軍用整機(jī)檢驗標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測試檢驗，確保系統(tǒng)的穩(wěn)定性和可靠性。YB半導(dǎo)體分立器件測試儀所使用的各種繼電器，全部采用國外公司生產(chǎn)的水銀繼電器，從而大大提高了誼邦系統(tǒng)的測試速度，提高了系統(tǒng)的使用壽命。
★服務(wù)周到是我公司的優(yōu)勢之一。選用YB半導(dǎo)體測試系統(tǒng)，享受YB電子服務(wù)，我們的服務(wù)可以在一小時內(nèi)答復(fù)解決方案，到達(dá)用戶現(xiàn)場當(dāng)天解決系統(tǒng)出現(xiàn)的所有問題。
★阻型負(fù)載：機(jī)內(nèi)設(shè)有不同阻值的電阻負(fù)載供選擇。
★電流型負(fù)載：機(jī)內(nèi)設(shè)有不同檔位的恒流源負(fù)載供選擇。
★用戶可以按照參數(shù)要求，自己設(shè)定參數(shù)自動分檔功能，以便把不同參數(shù)的器件自動加以區(qū)分、配對提高器件使用價值。
★高速參數(shù)測試和存儲功能，參數(shù)分析能力。平均每參數(shù)測試時間只有1毫秒。
★在線系統(tǒng)故障判斷修復(fù)能力，便于用戶應(yīng)急處理排除故障。
★YB分立器件測試儀在實際操作中，可真實達(dá)到電壓2000V、電流50A的測試條件。在極限值條件下測試，系統(tǒng)同樣保持高精度和良好的重復(fù)性、穩(wěn)定性。此項指標(biāo)遠(yuǎn)遠(yuǎn)于國內(nèi)其他產(chǎn)品。
★本分立器件測試系統(tǒng)測試原理和方法符合國家相關(guān)規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)。
★大功率器件測試采用脈沖法測試，脈沖寬度為規(guī)定的300uS。
★YB半導(dǎo)體測試系統(tǒng)硬件設(shè)計*，升級能力強(qiáng)。為用戶今后做測試系統(tǒng)升級提供了有力的技術(shù)保障。YB元器件測試系統(tǒng)硬件支持電壓升級到5000V，電流升級到1250A。
★系統(tǒng)采用*的嵌入式計算機(jī)結(jié)構(gòu)，可以實現(xiàn)脫機(jī)測試功能。提高了系統(tǒng)的可靠性和使用靈活性。
★YB分立器件測試系統(tǒng)和YB半導(dǎo)體測試夾具全部采用多級開爾文技術(shù)，采用無電纜連接設(shè)計結(jié)構(gòu)，保證測試結(jié)果準(zhǔn)確可靠。各種元器件測試夾具均由高級器件插座和高級插頭采用開爾文技術(shù)連接裝配，不僅確保長壽命工作，可靠性*，*使用壽命在5X106次以上。使測試數(shù)據(jù)更加準(zhǔn)確無誤。
★YB半導(dǎo)體測試系統(tǒng)具有被測器件引腿接觸自動判斷功能。遇到器件接觸不良時系統(tǒng)自動停止對被測器件測試，可確保被測器件不受損壞。
★真正的動態(tài)跨導(dǎo)測試。（國內(nèi)其他元器件測試系統(tǒng)采用直流方法測動態(tài)跨導(dǎo)，測試結(jié)果與器件實際值偏差很大）。
★二極管極性自動判別測試功能，不需人工判別極性測試，方便操作。
★具有單參數(shù)測試延時編程功能，用戶可根據(jù)不同器件要求選擇延遲時間，增強(qiáng)參數(shù)測試穩(wěn)定性。
★豐富的WINDOWS界面菜單編程和控制能力，方便的用戶信息文件、統(tǒng)計文件方式，可以給出批次測試失效數(shù)量、合格數(shù)量，按實測指標(biāo)分類器件數(shù)量。測試結(jié)果可以給出excel等多種形式。
★96個程序步，99種分類。
★混合參數(shù)編程方式（參數(shù)測試編程不受器件類別限制），可以對同一器件選用不同類別器件的參數(shù)進(jìn)行編程，大大的擴(kuò)展系統(tǒng)測試能力，對被測器件進(jìn)行測試和分析，軟件使用方便靈活。自動/固定量程測試功能，選用自動量程時，系統(tǒng)根據(jù)實測范圍自動調(diào)整以達(dá)到zui高測試精度。內(nèi)部設(shè)有可選擇的電流型負(fù)載和阻型負(fù)載。
★自檢、自校準(zhǔn)功能。系統(tǒng)提供自檢測試程序和夾具。系統(tǒng)故障自動判別到器件級。自校準(zhǔn)功能可將系統(tǒng)誤差存入內(nèi)置計算機(jī)，不需人工校準(zhǔn)即可實現(xiàn)精確測試。
★錯誤信息提示和在線幫助，面板顯示被測器件不合格參數(shù)和單步實測參數(shù)值。在線幫助是在線提示用戶如何簡便使用該測試系統(tǒng)。
★測試結(jié)果計算功能，系統(tǒng)可以將任意測試程序步的測試結(jié)果進(jìn)行計算，形成新的測試結(jié)果，方便用戶進(jìn)行分析，解決、擴(kuò)展特殊參數(shù)的測試可以將測試程序中任意步的測試結(jié)果進(jìn)行計算，形成新的測試結(jié)果，方便用戶對器件進(jìn)行分析。
★YB半導(dǎo)體測試系統(tǒng)單步測試功能，用于對單個參數(shù)進(jìn)行測試，同時將測試結(jié)果值在前面板上顯示，方便用戶分析。
★YB半導(dǎo)體測試系統(tǒng)測試結(jié)果分檔功能：用戶可以按照參數(shù)要求，設(shè)定參數(shù)自動分檔功能，系統(tǒng)把不同參數(shù)的器件自動加以區(qū)分、配對，提高器件使用價值。
★YB半導(dǎo)體分立測試系統(tǒng)機(jī)械手、探針臺、多終端、可選掃描、多路陣列擴(kuò)展測試能力。
★YB元器件測試系統(tǒng)可進(jìn)行實時運(yùn)算，允許測試結(jié)果比較與數(shù)值計算。
★功率源選用久經(jīng)驗證的電源線路，結(jié)合航天電源設(shè)計經(jīng)驗，在此基礎(chǔ)上形成具有自主產(chǎn)權(quán)的功率源發(fā)明技術(shù)。
★YB半導(dǎo)體測試系統(tǒng)設(shè)計綜合美國、日本多種*結(jié)構(gòu)技術(shù)。
★承諾確保系統(tǒng)使用壽命可以達(dá)到十年以上，系統(tǒng)功能正常，參數(shù)指標(biāo)符合出廠標(biāo)準(zhǔn)。
上述只列出該系統(tǒng)的部分常用特征。其它多種綜合處理能力在使用中可以不斷開發(fā)擴(kuò)大?？筛鶕?jù)用戶測試使用的要求，方便地選通其他特征。
