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1、該沖擊試驗(yàn)箱為待測試品靜置制冷、熱交替沖擊方式,廣泛使用于電子零部件測試,半導(dǎo)體、電子線路板、金屬化學(xué)、材料等測試設(shè)備。試驗(yàn)箱下部為低溫蓄冷區(qū),上部為高溫蓄熱區(qū),試件(待測品)放置。試驗(yàn)箱中部,高溫沖擊時(shí),上風(fēng)門打開,形成高溫循環(huán)。低溫沖擊時(shí),上風(fēng)門關(guān)閉,下風(fēng)門打開,形成低溫內(nèi)循環(huán)。
2、試件(待測品)靜止不動,避免了因試件移動待來的諸多不便。
3、彩色觸摸屏+PLC的控制系統(tǒng),*的PID精確控制。
特點(diǎn):
10秒內(nèi)沖擊機(jī)構(gòu)移動時(shí)間,可符合MIL, IEC, JIS規(guī)范
3~5分鐘內(nèi)冷熱沖擊溫度恢復(fù)時(shí)間,可符合相關(guān)試驗(yàn)規(guī)范
熱效率好而省能源的型式。
設(shè)指空間少,可有效利用空間。
設(shè)備主要是針對于電工、電子產(chǎn)品,以及其原器件,及其它材料在溫度急劇變化的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對產(chǎn)品按照國家軍用標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求,在高溫與低溫瞬間變化條件下,對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測試,測試后,通過檢測,來判斷產(chǎn)品的性能,是否仍然能夠符合預(yù)定要求,以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用?!?br />執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):
國軍標(biāo)GJB150.3-86;
國軍標(biāo)GJB150.4-86;
國軍標(biāo)GJB150.5-86;
GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法
GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法
結(jié)構(gòu)特征:
箱體內(nèi)殼 不銹鋼
外殼材質(zhì) 冷軋鋼板靜電噴塑
內(nèi)膽材質(zhì) SUS304B不銹鋼板。
由高溫室、低溫室、試驗(yàn)室三部分組成
保溫層 超細(xì)玻璃棉+硬質(zhì)聚氨脂發(fā)泡
加熱器 不銹鋼翅片加熱管
控制儀 觸摸屏控制儀中英文菜單顯示或10.4英寸真彩觸摸屏控制儀。
技術(shù)參數(shù):
兩箱式DY-A2T-50 試驗(yàn)方式 不銹鋼試樣吊籃上下移動
三箱式 DY-A3T-50試驗(yàn)方式 氣動風(fēng)門切換3溫區(qū)
高溫室 預(yù)熱溫度范圍 RT~+200℃
升溫速率※1 RT→150℃約30分鐘(RT:10~30℃)
低溫室 預(yù)冷溫度范圍 -70~0℃
降溫速率※ 0℃→-70℃,約70分鐘
溫度偏差 ±2℃ 溫度范圍 -55℃~150℃
溫度恢復(fù)條件 高溫曝露 +150℃,30分鐘 低溫曝露 -55℃,30分鐘
傳感器位置 試樣的上風(fēng)側(cè)