反射比測量原理
光源發(fā)出的光通過光纖和反射式積分球(InterSphere)在物體表面發(fā)生漫反射被特別設(shè)計的積分器收集，再通過積分球另外的一個接口送到分光光度計。不管樣品表面是絨面還是拋光的，所有的反射光和散射光都會被測量到。整體反射率用來測量制絨后和鍍膜后硅片的反射率。通過標(biāo)準(zhǔn)邏輯運算計算出您想要的顏色值xyY等
積分球的使用可以避免光譜儀的飽和，它的內(nèi)表面是*的漫反射，具有非常均勻的空間非常均勻的空間反射特性，測量精度可以達(dá)到0.1%。
測量步驟，先收集外部環(huán)境光的光強(qiáng)，再將標(biāo)準(zhǔn)片置于積分球的采樣口測量存為參考，zui后將待測樣品置于采樣口測量，軟件會自動計算出反射比R%.
光譜儀: ASspec-UV/VIS高紫外靈敏度光譜儀 （200-1100nm）
光源： ASLight-HAL鹵鎢燈
光纖： FC-UV/VIS 譜段 FC光纖
積分球：ASsphere-50積分球,8度角采樣
AS-Solar5000是一款方便實用的絨面拋光面硅片反射率測試儀器,系統(tǒng)使用簡單，無需操作人員有專業(yè)的技能用戶可以在移動的硅片上進(jìn)行連續(xù)性測量，也可以測量硅片上的固定點?？勺詣由蓽y試報告及數(shù)據(jù)存儲，用戶可自定義反射率zui大值，zui小值門限設(shè)置?？勺远x測量波長范圍，儀器配備標(biāo)準(zhǔn)參考片。
＊積分球式整體反射率測量
＊zui低反射率波長
＊自動報告生成
＊平均反射率測量
＊顏色計算
規(guī)格
測量
測量參數(shù) 反射率光譜 / 膜厚 / 顏色
反射率范圍 0 ~ 100 %
波長范圍 200 ~ 1100 nm
反射率精度 ±0.1 %
反射率重復(fù)性* <0.05%
顏色測量 XYZ
硬件
測量幾何 積分球 （所有角度反射光的測量）
測量光斑 ~ 8 mm
測量速度 < 1 s / point
硅片大小 156 x 156mm / 125 x 125mm
樣品臺 320 x 320mm
環(huán)境溫度: 15-35°C （50-90°F）,
濕度: <90% （non-condensing）
電源 AC 100 ~ 240V; 50/60 Hz
PC / 軟件
測量功能 整體反射率測量/zui小反射率波長定位/顏色/膜厚
PC 要求 Windows XP, 2GB RAM
