涂鍍層厚度測量和/或成分分析，元素范圍 Ti - U •可同時(shí)進(jìn)行多達(dá)15層元素成分分析 •測量方法符合ISO 3497，ASTM B568和DIN 50987 •CMIX射線系列測厚儀原產(chǎn)于美國，現(xiàn)已轉(zhuǎn)移至中國上海生產(chǎn)，是*的品牌產(chǎn)品，多年來CMI系列儀器在PCB及電鍍行業(yè)憑著高品質(zhì)的產(chǎn)品及完善的售后服務(wù)在業(yè)界已形成一個(gè)行業(yè)的標(biāo)準(zhǔn)，華南地區(qū)90％以上的大型企業(yè)都在使用CMI900做為檢測鍍層厚度的工具。CMI900X射線測厚儀是一種功能強(qiáng)大的材料涂／鍍層測量儀器，可應(yīng)用于材料的涂／鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領(lǐng)域，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準(zhǔn)確、快速的分析。基于WindowsXP中文視窗系統(tǒng)的中文版SmartLinkFP應(yīng)用軟件包，實(shí)現(xiàn)了對CMI900主機(jī)的全面自動(dòng)化控制。 　　CMI900X-射線熒光鍍層厚度測量儀，在技術(shù)上一直以來都于*的測厚行業(yè)　　A：CMI900能夠測量包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體，極薄的浸液鍍層（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。區(qū)別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時(shí)測定zui多5層、15種元素。　　B：精確度于世界，精確到0.025um（相對與標(biāo)準(zhǔn)片）　　C：數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)報(bào)告功能允許用戶自定義多媒體分析報(bào)告格式，以滿足您特定的分析報(bào)告格式要求；如在分析報(bào)告中插入數(shù)據(jù)圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。　　D：統(tǒng)計(jì)功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、zui大值、zui小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、相對偏差、UCL（控制上限）、LCL（控制下限）、CpK圖、直方圖、X-bar／R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。CMI900X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品；　　E：可測量任一測量點(diǎn)，zui小可達(dá)0.025x0.051毫米。 　　樣品臺選擇：CMI900采用開槽式樣品室設(shè)計(jì)，以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規(guī)格的樣品臺供用戶選用，分別為： 　　一：手動(dòng)樣品臺　　1、標(biāo)準(zhǔn)樣品臺：XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制。　　2、擴(kuò)展型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺：XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制?！　?、可調(diào)高度型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺：XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制。 　　二：自動(dòng)樣品臺　　1、程控樣品臺：XYZ軸自動(dòng)控制?！　?、超寬程控樣品臺：XYZ軸自動(dòng)控制。于接納超大尺寸樣品。