X射線熒光鍍層厚度測量儀(SFT9400系列)
產(chǎn)品簡介 產(chǎn)品副名稱:可滿足所有度層厚度測量需求的雙檢測器型鍍層厚度測量儀
產(chǎn)品型號:SFT9400、SFT9450、SFT9455
產(chǎn)品特點:
★搭載有高功率X射線管及雙檢測器(半導(dǎo)體檢測器+比例計數(shù)管)
可對應(yīng)組合復(fù)雜的應(yīng)用程序,特別是可識別Ni和Cu之類能量較為接近的元素。
能夠?qū)i/Cu和Au/Ni/Cu在不使用二次濾波器的情況下進行測量
對于含Br的電路板,可以不受Br的干擾對Au的鍍層厚度進行高精度的測量
可測量0.01μm以下的超薄的Au鍍層厚度
★搭載塊體FP發(fā)軟件和薄膜FP法軟件
對應(yīng)含鉛的合金鍍膜和多層鍍膜等,適用于廣泛的運用領(lǐng)域
★適用超微小面積的測量
標準配備的15μmΦ的準直器,可對超微小面積進行測量。
★搭載了可3段切換的變焦距光學(xué)系統(tǒng)
★擁有防沖撞功能
★搭載高精度樣品平臺,更可測量大型線路板(SFT9455)
★搭載激光對焦系統(tǒng)
★搭載測試報告自動生成軟件
產(chǎn)品特征:
為了對應(yīng)電子工業(yè)當中越來越復(fù)雜的鍍金工藝而設(shè)計,是在以往的SFT9300的基礎(chǔ)上升級的產(chǎn)品。他繼承了SFT9300的75W高功率X射線管,還配備雙檢測器(半導(dǎo)體檢測器+比例計數(shù)管)。是SFT9000系列里zui高級的機型,能滿足“薄膜鍍層”、“合金鍍層”、“超微小面積測量”等鍍層厚度測量需求的高性能。此外,SFT9400系列還在測量鍍層厚度的基礎(chǔ)上,新增了可對不同被測物體積材料進行定性分析和成分分析的功能。
產(chǎn)品介紹:
SFT9400系列產(chǎn)品規(guī)格
型號:SFT9400/SFT9450/SFT9455
儀器的特長:微小面積對應(yīng)及高性能型
可測量元素:原子序號22(Ti)~83(Bi)
X射線源:小型空氣冷卻型高功率X射線管球(Mo靶)
管電壓:50kV管電流:1.5mABe窗
濾波器:一次濾波器:Mo-自動切換
二次濾波器:無
照射方式:上方垂直照射方式
檢測器:半導(dǎo)體檢測器+比例計數(shù)管(不需液氮的檢測器)
儀器校正:自動校正+手動校正
準直器(標準配置):○型(4種)
安全性能:樣品室門鎖,樣品防沖撞功能
樣品圖像對焦:有(激光對焦)
樣品觀察:CCD攝像頭+倍率光學(xué)器+鹵素?zé)粽彰?
焦點切換功能:3段切換9400:10/40/70mm
9450:10/25/40mm
X-rayStation 臺式電腦
(OS;MS-WindowsXP®)
打印 噴墨打印機
應(yīng)用 單層、雙層、多成分合金薄膜、成分比同時測量、化學(xué)鎳
軟件 塊體FP法軟件、薄膜FP法軟件
測量功能:自動測量、中心搜索、圖像識別處理
修正功能:基材修正、已知樣品修正、人工輸入修正
統(tǒng)計處理功能:MS-EXCEL®
報告制作功能:MS-WORD®