電子薄膜應(yīng)力分布測(cè)試儀 基片曲率半徑測(cè)量測(cè)試儀 光學(xué)零件平整度面形檢測(cè)儀 微電子生產(chǎn)半導(dǎo)體基片檢測(cè)儀
型號(hào)JC06-DZ
該產(chǎn)品主要應(yīng)用在微電子、光電子生產(chǎn)線上和科研、教學(xué)等領(lǐng)域Si、Ge、GaAs等半導(dǎo)體基片及電子薄膜應(yīng)力分布、光學(xué)零件面形和平整度面形、基片曲率半徑測(cè)量測(cè)試。該儀器總測(cè)量點(diǎn)數(shù)多,能給出全場(chǎng)面型分布結(jié)果,適合于微電子生產(chǎn)線上產(chǎn)品質(zhì)量的快速檢驗(yàn)和微電子生產(chǎn)工藝研究。
儀器基于干涉計(jì)量的全場(chǎng)測(cè)試原理,可實(shí)時(shí)觀測(cè)面型的分布,迅速了解被測(cè)樣品的形貌及應(yīng)力集中位置,及時(shí)淘汰早期失效產(chǎn)品。
電子薄膜應(yīng)力分布測(cè)試儀 基片曲率半徑測(cè)量測(cè)試儀 光學(xué)零件平整度面形檢測(cè)儀 微電子生產(chǎn)半導(dǎo)體基片檢測(cè)儀 主要技術(shù)指標(biāo)
Z大樣品尺寸≤100mm(4英寸)
曲率范圍|R|≥5米
測(cè)試精度5%
單片測(cè)量時(shí)間3分鐘/片
結(jié)果類型面形、曲率半徑、應(yīng)力分布、公式表示、數(shù)據(jù)表格
圖形顯示功能三維立體顯示、二維偽彩色顯示、單截面曲線顯示
電源AC220V±10%,50Hz±5%
Z大功耗100W
外型尺寸(L×W×H)285mm×680mm×450mm
重量36kg
電子薄膜應(yīng)力分布測(cè)試儀 基片曲率半徑測(cè)量測(cè)試儀 光學(xué)零件平整度面形檢測(cè)儀 微電子生產(chǎn)半導(dǎo)體基片檢測(cè)儀
電子薄膜應(yīng)力分布測(cè)試儀 基片曲率半徑測(cè)量測(cè)試儀 光學(xué)零件平整度面形檢測(cè)儀 微電子生產(chǎn)半導(dǎo)體基片檢測(cè)儀