電路板故障檢測(cè)儀產(chǎn)品綜述:
數(shù)字集成電路測(cè)試功能模塊(ABI-6400)
在BM-8400電路板故障檢測(cè)儀中提供了1個(gè)數(shù)字集成電路功能測(cè)試模塊,其具有64個(gè)量測(cè)通道,可提供多種的量測(cè)功能.這些通道可提供全面性故障診斷能力,包括數(shù)字集成電路功能測(cè)試(在線/離線測(cè)試),集成電路接腳的連接狀態(tài)和電壓值的量測(cè),并連同在無(wú)電源供給的情形下使用的VI曲線的測(cè)試功能.
數(shù)字集成電路測(cè)試的高級(jí)測(cè)試模塊(ABI-6500)
該模塊是ABI-6400模塊的升級(jí)產(chǎn)品,是數(shù)字集成電路測(cè)試的高級(jí)測(cè)試模塊,系統(tǒng)提供信息更全面,更準(zhǔn)確.測(cè)試條件更豐富,仿真測(cè)試輸入條件電壓電流可以根據(jù)需要-10V~+10V之間自己定義,檢測(cè)輸出的電平也可以自己定義.ATM模塊可以更好的檢測(cè)測(cè)試庫(kù)以外的元器件,實(shí)現(xiàn)電路板仿真測(cè)試更加方便快捷.
模擬集成電路測(cè)試功能模塊(ABI-2400/2500)
在模擬集成電路測(cè)試儀中允許模擬集成電路和分立集成電路進(jìn)行功能測(cè)試.所有常見的模擬集成電路皆可以測(cè)試,系統(tǒng)會(huì)依照集成電路在PCB上的電路型態(tài)來(lái)作功能測(cè)試,不需要編輯程序或參考電路圖.在該模塊中還包括了完整的V-I曲線測(cè)試功能,電路板或集成電路可在無(wú)電源供給的情形下,得到清楚易懂的圖形化測(cè)試結(jié)果.
綜合型基礎(chǔ)儀表模塊(ABI-6300)
在ABI-6300儀表模塊中,提供了多種高規(guī)格的測(cè)試及量測(cè)用的儀表功能在同一模塊之中.此種設(shè)計(jì)方式,適合用于教育及一般用途的電子量測(cè)使用.其模塊提供了頻率/事件計(jì)數(shù)器,數(shù)字存儲(chǔ)式示波器,信號(hào)產(chǎn)生器,雙信道的數(shù)字電表,固定式電源供應(yīng)器及通用型的I/O接口.且操作者可以利用軟件的自定儀器平臺(tái)功能,來(lái)設(shè)計(jì)客制化的儀器操作接口.
數(shù)字可調(diào)式電源供應(yīng)器模塊(ABI-1100)
此模塊可提供集成電路或電路板在進(jìn)行測(cè)試時(shí)所必要的電源.其具有三組可調(diào)式電源輸出,并同時(shí)具有過電壓及過載保護(hù)功能.
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