38DLP PLUS（高級測厚儀）主要特性
1. 可與雙晶和單晶探頭兼容。
2. 寬泛的厚度范圍：0.08毫米～635毫米，根據(jù)材料和所選探頭而定。
3. 使用雙晶探頭進(jìn)行腐蝕測厚。
4. 穿透涂層和回波到回波測量功能，用于測量表面帶有漆層和涂層的材料。
5. 內(nèi)部氧化層/沉積物軟件選項。
6. 對于所有探頭，標(biāo)準(zhǔn)分辨率為0.01毫米。
7. 使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭，高分辨率軟件選項可進(jìn)行分辨率為0.001毫米的厚度測量。
8. 多層軟件選項可對多達(dá)4個不同層同時進(jìn)行測量。
9. 高穿透軟件選項用于測量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。
10.厚度、聲速和渡越時間測量。
11.差分模式和縮減率模式。
12.時基B掃描模式；每次掃查可獲得10000個可查讀數(shù)。
13.帶有數(shù)字式過濾器的Olympus高動態(tài)增益技術(shù)。
14.用于自定義V聲程補(bǔ)償?shù)腣聲程創(chuàng)建功能。
15.設(shè)計符合EN15317標(biāo)準(zhǔn)。
技術(shù)規(guī)格
測量
雙晶探頭測量模式: 從激勵脈沖后的精確延時到*個回波之間的時間間隔。
穿透涂層測量模式: 利用單個底面回波（使用D7906-SM和D7908探頭）,測量金屬的實際厚度和涂層厚度。
穿透漆層回波到回波測量模式: 在兩個連續(xù)底面回波之間的時間間隔,不計漆層或涂層的厚度。
單晶探頭測量模式:
模式1：激勵脈沖與*個底面回波之間的時間間隔。
模式2：延遲線回波與*個底面回波之間的時間間隔（使用延遲線式或水浸式探頭）。
模式3：在激勵脈沖之后，位于*個表面回波后的相鄰底面回波之間的時間間隔（使用延遲線式或水浸式探頭）。
氧化層模式：可選。
多層模式：可選。
厚度范圍: 0.080毫米～635.00毫米，視材料、探頭表面條件、溫度和所選配置而定。
材料聲速范圍: 0.508 mm/μs～13.998 mm/μs
分辨率（可選擇）:
低分辨率：0.1毫米
標(biāo)準(zhǔn)分辨率：0.01毫米
高分辨率（可選項）：0.001毫米
探頭頻率范圍:
標(biāo)準(zhǔn)2.0 MHz～30 MHz（-3 dB）
高穿透（可選項）：0.50 MHz～30 MHz（-3 dB）
一般規(guī)格
工作溫度范圍: -10°C～50°C
鍵區(qū): 密封、以色彩區(qū)分功能的鍵盤，帶有觸感及聲音反饋。
機(jī)殼: 防撞擊、防水、裝有密封墊的機(jī)殼；機(jī)殼上的接口密封。設(shè)計符合IP67標(biāo)準(zhǔn)。
外型尺寸（寬 x 高 x 厚）:125毫米x211毫米x46毫米
重量: 0.814公斤
電源: AC/DC適配器，24 V；鋰離子電池，23.760 Wh；或4節(jié)AA輔助電池。
鋰離子電池供電時間: 工作時間zui少12.6小時，一般14小時，zui多14.7小時?？焖俪潆姡?小時到3小時。
標(biāo)準(zhǔn): 設(shè)計符合EN15317標(biāo)準(zhǔn)。
顯示
彩色透反VGA顯示: 液晶顯示，顯示屏尺寸：56.16毫米 X 74.88毫米
檢波: 全波、RF波、正半波、負(fù)半波
輸入/輸出
USB: 1.0從接口。
RS-232: 有。
存儲卡: zui大容量2 GB外置MicroSD存儲卡。
視頻輸出: VGA輸出標(biāo)準(zhǔn)。
內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器
數(shù)據(jù)記錄器: 38DL PLUS通過標(biāo)準(zhǔn)RS-232串口或USB端口識別、存儲、回放、清除、傳輸厚度讀數(shù)、波形圖像和儀器配置信息。
容量: 475000個厚度測量讀數(shù)，或20000個帶厚度值的波形。
文件名稱、ID編碼及注釋: 32位字符的文件名，20位字符的字母數(shù)字位碼，每個位有四個注釋。
文件結(jié)構(gòu): 9個標(biāo)準(zhǔn)的或自定義的用于特定應(yīng)用的文件結(jié)構(gòu)。
報告: 機(jī)載報告總結(jié)了數(shù)據(jù)統(tǒng)計、帶有位置信息的zui小值/zui大值、zui小值回顧、文件比較及報警報告。
