- GB/T4956-1985 磁性方法;
- GB/T4957-1985 渦流方法;
- JB/T8393-1996 磁性和渦流覆層測厚儀;
- JJG889-95 《磁阻法測厚儀》;
- JJG818-93 《電渦流式測厚儀》。
測頭類型 | Leeb250 | Leeb251 | |
測頭類型 | F1 | N1 | |
工作原理 | 磁感應(yīng) | 電渦流 | |
測量范圍 | 0~1250μm | ||
低限分辨率 | 1μm | ||
示值誤差 | 一點校準 | ±(3%H+1) | |
二點校準 | ±[(1~3%)H+1] | ||
測試條件 | zui小曲率半徑mm | 凸1.5、凹9 | |
zui小面積直徑mm | Φ7 | ||
基本臨界厚度mm | 0.5 | ||
工作環(huán)境 | 溫度 | 0~40℃ | |
濕度 | 20%~90% | ||
電源 | AAA型堿性電池1.5V四節(jié) | ||
外形尺寸 | 150×55.5×23mm(主機) | ||
重量 | 120g | ||
標準配置 | 主機、標準試片、基體、AAA型堿性電池 |