FS3001高壓介質(zhì)損耗測試儀
◆ 概述
電氣設(shè)備絕緣介質(zhì)損耗因數(shù)（tanδ）測試是電力系統(tǒng)絕緣檢測zui精密、zui主要和zui常用的試驗(yàn)方法之一。測試tgδ值可有效發(fā)現(xiàn)絕緣的受潮、絕緣分層、穿透性導(dǎo)電通道、絕緣老化污穢等缺陷。但是常規(guī)試驗(yàn)儀器現(xiàn)場測試tgδ時(shí)，存在接線復(fù)雜、抗*力差和反接法測試數(shù)據(jù)誤差大等缺點(diǎn)。華勝FS3001高壓抗干擾介質(zhì)損耗測試儀采用抗干擾技術(shù)，操作簡單安全，測試數(shù)據(jù)
FS3001高壓介質(zhì)損耗測試儀
◆ 概述
電氣設(shè)備絕緣介質(zhì)損耗因數(shù)（tanδ）測試是電力系統(tǒng)絕緣檢測zui精密、zui主要和zui常用的試驗(yàn)方法之一。測試tgδ值可有效發(fā)現(xiàn)絕緣的受潮、絕緣分層、穿透性導(dǎo)電通道、絕緣老化污穢等缺陷。但是常規(guī)試驗(yàn)儀器現(xiàn)場測試tgδ時(shí)，存在接線復(fù)雜、抗*力差和反接法測試數(shù)據(jù)誤差大等缺點(diǎn)。華勝FS3001高壓抗干擾介質(zhì)損耗測試儀采用抗干擾技術(shù)，操作簡單安全，測試數(shù)據(jù)準(zhǔn)確，符合國家新頒布電力行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)《高壓介質(zhì)損耗測試儀通用技術(shù)條件 DL/T962-2005》的要求。
FS3001高壓介質(zhì)損耗測試儀抗干擾、高精度測試絕緣狀況。 1.介質(zhì)損耗（tanδ）測試范圍 0～1 ，分辨率0.0001。 2.電壓0.5kV～10kV。
◆ FS3001高壓介質(zhì)損耗測試儀主要特點(diǎn)和功能
☆ 具有多種測試方式：可選擇正/反接線、內(nèi)/外標(biāo)準(zhǔn)電容器和內(nèi)/外試驗(yàn)電壓進(jìn)行測試，可測CVT，適應(yīng)不同現(xiàn)場要求。
☆ 內(nèi)置SF6標(biāo)準(zhǔn)電容器，tgδ<0.005%，受空氣濕度影響小。
☆ 抗干擾效果好：采用抗干擾技術(shù)，能有效地消除現(xiàn)場電場干擾對測試的影響，適用于500kV及以下電壓的強(qiáng)干擾現(xiàn)場試驗(yàn)。
☆ 高壓短路和突然斷電時(shí)，儀器能迅速切斷高壓，并發(fā)出警告信息。
☆ 測試重復(fù)性好，測試準(zhǔn)確度不受電壓影響。
☆ 一體化結(jié)構(gòu)，重量適中，便于攜帶。
☆ 大屏幕帶背光中文液晶顯示器，菜單提示操作，使用方便。
☆ 內(nèi)置打印機(jī)，及時(shí)打印保存測試數(shù)據(jù)。
☆ 高壓電纜連接至試品，保證安全；儀器未接地報(bào)警，安全措施完善。
◆ FS3001高壓介質(zhì)損耗測試儀主要技術(shù)參數(shù)
☆ 額定工作條件： 環(huán)境溫度：0~40℃（當(dāng)溫度超出20℃±5℃時(shí)，每變化10℃儀器基本誤差的改變量不超過基本誤差限的1/2）
☆ 相對濕度：30%~85%
☆ 供電電源：電壓：220±10%V，頻率：50±1Hz
☆ 外型尺寸：450×330×380 mm3
☆ 儀器重量：≤16kg
☆ 電子電路功耗：不大于40VA
☆ 測試范圍：
1.介質(zhì)損耗（tgδ）測試范圍 0～1 ，分辨率0.0001
2.電容量（Cx）分辨率0.01PF，測試范圍如下 ：
（1）內(nèi)接方式
試驗(yàn)電壓 | 試品電容量 |
5KV 7.5KV 10KV | 3PF~40000PF |
1.5KV 2.25KV 3K | 10PF~0.35μF |
0.5kV 0.75kV 1kV | 30PF~1.5μF |
（2）外接方式
“外接升壓器”方式zui高試驗(yàn)電壓10kV；
“外接Cn”方式（外接高壓、外接標(biāo)準(zhǔn)電容器）zui高試驗(yàn)電壓由標(biāo)準(zhǔn)電容器和被試品決定（Umax=Imax/ωC）。
標(biāo)準(zhǔn)回路zui大電流50mA（In=UωCn） ，被試回路zui大電流2A（Ix=UωCx）
☆ 內(nèi)部升壓器輸出能力
試驗(yàn)電壓 | 額定輸出電流 |
5KV 7.5KV 10KV | 100mA |
1.5KV 2.25KV 3K | 300mA |
0.5kV 0.75kV 1kV | 500mA |
- 基本測試誤差
- 20℃±5℃、相對濕度30%~85%的條件下，基本測試誤差應(yīng)符合下表規(guī)定。
測試內(nèi)容 | 電容量范圍（Cx） | 試品是否接地 | 基本誤差 |
介質(zhì)損耗因數(shù)tgδ | 50pF~60000pF | 不接地 | ±（1%讀數(shù)+0.0005） |
接地 | ±（1%讀數(shù)+0.0010） | ||
10pF~50pF或60000pF以上 | 不接地 | ±（1%讀數(shù)+0.0010） | |
接地 | ±（2%讀數(shù)+0.0020） | ||
3pF~10pF | 接地與不接地 | ||
電容量 | 50pF以上 | 接地與不接地 | ±（1%讀數(shù)+1pF） |
50pF以下 | ±（1%讀數(shù)+2pF） |
◆ 儀器別稱：
“高壓介質(zhì)損耗測試儀”別稱：抗干擾高壓介質(zhì)損耗測試儀，介損測試儀，介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀，介損儀，tgδ測試儀，tanδ測試儀，介損電橋測試儀，介質(zhì)損耗測試裝置，介質(zhì)損耗測試儀。
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電議或發(fā)詢價(jià)函
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