一：LS152真空鍍膜生產(chǎn)線透光率測試設(shè)備測試原理
   材料的透過率(光密度)和材料的鍍層厚度成一定的比例關(guān)系。這樣通過監(jiān)控材料的光學透過率(光密度)來達到監(jiān)控材料的均勻性，鍍層厚度的目的。只要是光能透過的材料，都可以通過監(jiān)控透光率來監(jiān)控產(chǎn)品的品質(zhì)。如卷繞真空鍍膜，玻璃鍍膜，玻璃生產(chǎn)線等等。
二：LS152真空鍍膜生產(chǎn)線透光率測試設(shè)備結(jié)構(gòu)組成
   設(shè)備分為三部分：探測系統(tǒng)、人機交互設(shè)備、電腦實時監(jiān)控系統(tǒng)；
   探測系統(tǒng):主要包括光源，接收器，控制器和鋁支架；
   人機界面：7寸LCD人機交互界面，顯示各個測試點的透過率和光密度數(shù)據(jù)；
   電腦實時監(jiān)控系統(tǒng)（選配）：數(shù)據(jù)記錄，分析，報表等功能。
   此儀器提供雙路的RS485通訊接口，標準的MODBUS通訊協(xié)議，方便和PLC，單片機，人機界面，組態(tài)王，電腦等通訊。鍍膜機可以直接讀取此設(shè)備的光密度數(shù)據(jù)，實現(xiàn)控制自動化（閉環(huán)控制）。

三：LS152參數(shù)
    1.測試波長：根據(jù)客戶需要選擇，目前有如下的選擇： 
     紅外線：850 nm（默認選項，抗*力強）
     綠光： 530nm
    2.透過率測量精度：優(yōu)于±1%
    3.透過率分辨率：0.005%
    4.光密度測量范圍：0.00 OD --- 5.00 OD
    5.光密度的分辨率：0.01 OD for 0.00 - 3.00 OD
                0.05 OD for 3.00 - 5.00 OD
    6.zui大測量點數(shù)：36點
    7.相鄰探測頭之間距離：zui小70mm
    8.發(fā)送接收探頭之間距離：20mm
    9.溫度范圍： -20°C --- +70°C    
    10.數(shù)據(jù)刷新周期：300ms
    11.測控主機尺寸： 80mm（寬）*180mm（高）* 長度(根據(jù)客戶要求定制)
    12.需真空法蘭電極芯數(shù)：6根（不配電腦監(jiān)控），9根（配電腦監(jiān)控）
    13.電源：220V AC/50Hz
    14.通訊：雙路RS485

生產(chǎn)商：www.lstek.cn

售后服務(wù)：/薛女士