瓦里安平板探測器
成像平板探測器的設計一般的X射線數(shù)字成像基于新的千兆位以太網接口,圖像顯示在用戶提供的工作站。
圖像基礎上的應用采集從zui終用戶的工作站或筆記本電腦上運行具有影像成像質量高,超薄的探測板,圖像清晰等特點,DR平板探測器是目前X射線X光影像成像設備中,zui清晰的影像成像設備。
應用領域、DR平板探測器被廣泛應用于:科研工業(yè)、X射線無損檢測成像,醫(yī)學攝影、造影的行業(yè)。
可檢測:IC、BGA、電容、電阻、二極管、三極管、塑料氣泡、金屬、鑄件裂縫等。
插頭、開關內部結構;水筆頭內部結構;鋰電池頂部焊接;電池外殼裂縫;塑料件、橡膠件內部氣孔;開門鎖定內部構造等。
功能:
1、檢測IC、BGA、芯片、開關、連接線、插頭等電子元件內部結構(位置是否偏移、變形;是否脫焊;是否斷裂等現(xiàn)象);
2、檢測皮鞋、皮包是否有異物(鞋底、鞋面、包內及包表面非位置有鐵釘、針脫落在內);
3、內部是否有氣孔;內部線材是否斷裂;焊接處是否焊牢;
內部線材是否在位置;
內部是否有金屬雜質,從而導致短路;
本產品為上海迅星電子科技有限公司研發(fā)!
為了對客戶負責,我們希望客戶能寄樣品或者帶樣品到我公司檢測,確認效果后再購買本設備。我們會以的服務呈現(xiàn)給您!
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