貴陽(yáng)非飽和高壓加速試驗(yàn)機(jī): :
GB 10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB 10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10586-89 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB 11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.5-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備
GB2423.22-87 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法
GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法
GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法
GB2423.3-91電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法
GB2423.4-91電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Db:交變濕熱試驗(yàn)方法
GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則
GB/T2423.1-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫》
GB/T2423.2-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫》
GB/T2423.3-2006《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)》
GB/T2423.4-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Db:交變濕熱(12h+12h循環(huán))》
GB/T2423.50-1999《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cy:恒定濕熱主要用于元件的加速試驗(yàn)》
GB/T2423.10-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則:振動(dòng)(正弦)》
GB/T2423.56-2006《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fh:寬帶隨機(jī)振動(dòng)(數(shù)字控制)和導(dǎo)則》
GB/T2423.58-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fi:振動(dòng)混合模式》
東莞艾思荔【.pct-asli.】采取了新的制冷能量調(diào)節(jié)技術(shù),在做低溫恒定試驗(yàn)過(guò)程中,不需要加熱來(lái)進(jìn)行溫度(冷熱)平衡,降低了壓縮機(jī)與冷凝器的熱效應(yīng)產(chǎn)生,減少了通過(guò)冷卻塔向大氣排放熱量(溫室效應(yīng)),降低了對(duì)大氣環(huán)境的污染,達(dá)到環(huán)保的目的。在低溫狀態(tài)下做恒溫試驗(yàn)時(shí),由于采用是新的制冷能量調(diào)節(jié)技術(shù),是對(duì)制冷量進(jìn)行調(diào)節(jié),加濕用水控制更合理,用水量明顯減少,同時(shí)減小了廢水的排放。 .gdwcjx.
PCT高壓老化試驗(yàn)設(shè)備 PCT高壓加速老化箱 pct測(cè)試儀
高溫高壓蒸煮儀 PCT老化試驗(yàn)箱 PCT高壓老化試驗(yàn)機(jī)
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