多功能激光橢圓偏振儀 型號:ZXWJZ-II庫號:M351615 查看hh實(shí)驗(yàn)內(nèi)容: ●測量薄膜厚度?!駵y量介質(zhì)折射率?!耱?yàn)證馬呂斯定律?!裼^察了解光的偏振現(xiàn)象。 儀器特點(diǎn):●以分光計為平臺,測量薄膜厚度?!窭密浖M(jìn)行數(shù)據(jù)處理。 設(shè)備成套性:●半導(dǎo)體激光器、數(shù)字檢流計、光電探頭、 待測樣品、起偏器、檢偏器、分光計(選配)等。 主要指標(biāo):測量透明薄膜厚度范圍0 - 300nm,折射率1.30-2.49。 起偏器、檢偏器、1/4波片刻度范圍0* -360°, 游標(biāo)讀數(shù)0.10。 測量精度: +2nm。 入射角ψ1=70° ,K9玻璃折射率n=1.515。 消光系數(shù): 0,空氣折射率1?!癜雽?dǎo)體激光器波長λ = 635nm。