CMI700的面銅標準片
孔、面銅測厚儀 CMI700系列
CMI760是CMI700系列專為滿足印刷電路板行業(yè)銅厚測量和質(zhì)量控制的需求而設(shè)計；采用微電阻和電渦流方式測量表面銅和孔內(nèi)鍍銅厚度。具有多功能性、高擴展性和*的統(tǒng)計功能，統(tǒng)計功能用于數(shù)據(jù)整理分析。
型號 | CMI760 | CMI760E | 備注 |
名稱 | 臺式面銅測厚儀 | 臺式孔、面銅測厚儀 |
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標配 |
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| SRP-4探針又稱水晶頭 |
選配 |
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700 SERIES主機參數(shù)：
- 存 儲 量：8000字節(jié)，非易失性
- 尺 寸：長×寬×高292.1×270×140mm
- 重 量：2.79Kg
- 電 源：AC220V
- 單位轉(zhuǎn)換：通過一個按鍵實現(xiàn)英制和公制的自動轉(zhuǎn)換
- 單 位：可選mils 、μm、μin、mm、in或%為顯示單位
- 接 口：RS-232 串行接口，波特率可調(diào)，用于下載至打印機或計算機
- 顯 示：帶背光和寬視角的大LCD液晶顯示屏，480(H)×32(V)象素
- 統(tǒng)計顯示：測量個數(shù)，標準差，平均值，zui大值，zui小值
- 統(tǒng)計報告：需配置串行打印機或PC電腦下載，存儲位置，測量個數(shù)，銅箔類型，線形銅線寬，測量日期/時間，平均值，標準差，方差百分比，準確度，zui高值，zui低值，值域，CPK 值，單個讀數(shù)，時間戳，直方圖
- 圖 表：直方圖，趨勢圖，X-R 圖
