JDSU多應用平臺(MAP-200)是一個光學測試和測量平臺,是光傳輸網(wǎng)絡設備的研發(fā)和生產(chǎn)測試的工具。當今瞬息萬變的光通訊產(chǎn)品市場,需要在能夠提高生產(chǎn)率的技術和工具上進行投資,而即使在zui嚴格的環(huán)境下,MAP-200可擴展測試平臺也是zui合適之選。
基于上一代多應用平臺(MAP),新MAP-200的不同之處在于將更多的模塊組合放在了這個zui密集和有可配置性的平臺上。無論是對于研發(fā)實驗室,還是產(chǎn)品生產(chǎn)線,MAP-200都是測試工具的*選擇,功能涵蓋從插入損耗測試到色散代價測試。