DT310-T370--低阻抗分析儀 表面阻抗測(cè)試儀 表面阻抗檢測(cè)儀詳細(xì)介紹
四探針方案-一觸式高精度的各種材料的表面電阻率測(cè)量。
查找只需按下啟動(dòng)按鈕,確認(rèn)自動(dòng)測(cè)量功能,可自動(dòng)保持當(dāng)前的測(cè)量值。
電池壽命可以采用鎳氫電池組可以方便地替換。
新增探頭校準(zhǔn)模式。檢查探頭校準(zhǔn)片(另售),以確認(rèn)Roresuta AX測(cè)試值的準(zhǔn)確性。
測(cè)量數(shù)據(jù)可以導(dǎo)出到USB存儲(chǔ)器。
低阻抗分析儀 表面阻抗測(cè)試儀 表面阻抗檢測(cè)儀
規(guī)格
測(cè)量方法四端四探針法
施加恒定電流的方法
測(cè)量范圍10 -2?10 6 Ω
標(biāo)準(zhǔn)配置四探針探頭(ASP)AC適配器 說明書 檢查確認(rèn)書
低阻抗分析儀 表面阻抗測(cè)試儀 表面阻抗檢測(cè)儀
選項(xiàng)
探頭選項(xiàng)
類型適用被測(cè)試樣品型號(hào)
ESP對(duì)于異類樣本DT310 - TP08P
PSP小樣本的薄膜DT310 - TP06P
QPP對(duì)于小樣本DT310 - TPQPP
TFP有關(guān)硅晶片或玻璃基板薄膜DT310 - TFP
校準(zhǔn)塊型號(hào):DT310 - TRF1