冠層分析系統(tǒng)000葉面積指數(shù)校正值

　　將冠層分析儀掃描器上zui外圍的讀數(shù)刪除后重新估計葉面積指數(shù)（校正值）。校正后的冠層分析儀估計的葉面積指數(shù)的范圍在1.1~4.8之間，其平均值為3.8±0.1，比校正前提高了26.7%（與校正前冠層分析儀估計的葉面積指數(shù)相比），且通過校正，冠層分析儀的估計值與方框取樣法的測量值之間的差值率減少到了11.6%。相關(guān)分析表明，校正后冠層分析儀的估計值與方框取法的測值之間的線性相關(guān)關(guān)系更為顯著，盡管所擬合直線仍位于對角線下方，但與校正前相比，二者之間的差距已明顯縮小。通過校正明顯地提高了冠層分析儀估計葉面積指數(shù)的準確性。

　　隨著葉面積指數(shù)的增加，冠層分析儀估計的葉面積指數(shù)與方框取樣法的測定值相差越大。一般而言，果園的葉面積指數(shù)越大，葉片之間相互重疊的機率也越大，且葉面積指數(shù)越大，樹冠內(nèi)膛內(nèi)的光環(huán)境就越差，內(nèi)膛內(nèi)的葉片較少，而大多數(shù)的葉片分布在樹冠的外圍，尤其是樹冠的上層分布的較多，因此也增加了葉片的聚集效應(yīng)，所以，隨著果園葉面積指數(shù)的增大，兩方法得到結(jié)果也相差越大，但葉面積指數(shù)與兩種方法測量結(jié)果差值的百分率之間沒有顯著的相關(guān)關(guān)系。

儀器名稱：冠層分析系統(tǒng)

儀器型號：000

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