導波雷達物位計天線發(fā)射極窄的微波脈沖，這個脈沖以光速在空間傳播，碰到被測介質(zhì)表面，其部分能量被反射回來，被同一天線接收。發(fā)射脈沖與接收脈沖的時間間隔與天線到被測介質(zhì)表面的距離成正比。由于電磁波的傳播速度*，發(fā)射沖與接受脈沖的時間間隔很?。{秒量級）很難確認?？梢詼蚀_識別發(fā)射脈沖與接收脈沖的時間間隔，從而進一步計算出天線到被測介質(zhì)表面的距離。
導波雷達物位計 發(fā)出的高頻微波脈沖沿著探測組件（鋼纜或鋼棒）傳播，遇到被測介質(zhì)，由于介電常數(shù)突變，引起反射，一部分脈沖能量被反射回來。發(fā)射脈沖與反射脈沖的時間間隔與到被測介質(zhì)的距離成正比。
技術(shù)參數(shù)
應 用：液體及固體測量，復雜過程條件
zui大量程：纜：30m/棒：6m
測量精度：±10mm
過程連接：G1?A、G2A、1?NPT
探測組件材料：不銹鋼316L
過程溫度：-40~+150°C
過程壓力：-1.0~40bar
信號輸出：兩線制4~20Ma/HART
