Zetatrac 湖北武漢十堰襄陽(yáng)宜昌Zetatrac 納米/Zeta電位分析儀-儀表網(wǎng)

武漢頓杰測(cè)量?jī)x器有限公司是一家專(zhuān)業(yè)從事工業(yè)檢測(cè)儀器領(lǐng)域產(chǎn)品的代理、銷(xiāo)售、技術(shù)咨詢及售后方面的專(zhuān)業(yè)型企業(yè)。

主要代理、銷(xiāo)售國(guó)內(nèi)外名優(yōu)檢測(cè)儀器，產(chǎn)品涵概通用分析儀器、輪廓測(cè)量?jī)x器、基礎(chǔ)量具、材料試驗(yàn)儀器、無(wú)損檢測(cè)設(shè)備、測(cè)繪儀器、實(shí)驗(yàn)儀器、物理儀器、力學(xué)計(jì)量?jī)x器等，還可根據(jù)用戶需求設(shè)計(jì)制造非標(biāo)計(jì)量檢測(cè)產(chǎn)品，并擁有代理培訓(xùn)計(jì)量成員、計(jì)量送檢等資格，涉及儀器方面的咨詢、售后、維修、改裝等業(yè)務(wù)都可以通過(guò)我們來(lái)尋求幫助。
憑著優(yōu)良的*態(tài)度、良好的售后服務(wù)在市場(chǎng)贏得贊譽(yù)。我公司在國(guó)內(nèi)擁有大量用戶，銷(xiāo)售網(wǎng)絡(luò)遍布全國(guó)各省，分別在湖北、武漢、十堰、襄樊、湖南、長(zhǎng)沙、岳陽(yáng)、江西、南昌、萍鄉(xiāng)、重慶、成都、河南、鄭州、南陽(yáng)、洛陽(yáng)、等地設(shè)有服務(wù)網(wǎng)點(diǎn)。其中包括機(jī)械、電力、石油、化工、冶金、航天航空、核工業(yè)等領(lǐng)域的科研、生產(chǎn)、試驗(yàn)和質(zhì)檢等單位部門(mén)。多年來(lái)以優(yōu)良的產(chǎn)品，優(yōu)質(zhì)的服務(wù)，良好的信譽(yù)贏得客戶的信賴與稱譽(yù)。

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介在線詢價(jià)

產(chǎn)品編號(hào)：
5251753016
產(chǎn)品名稱：
納米/Zeta電位分析儀
規(guī)　　格：
Zetatrac
產(chǎn)品備注：
原產(chǎn)地：美國(guó)

湖北武漢十堰襄陽(yáng)宜昌Zetatrac 納米/Zeta電位分析儀產(chǎn)品詳情

產(chǎn) 品說(shuō) 明

技術(shù)參數(shù)
粒度范圍：0.8納米－ 6.5微米
Zeta 電位測(cè)量：+/- 5mv
電泳遷移：+/- 0.4 μs/volt/cm
重復(fù)性：誤差小于1%（標(biāo)準(zhǔn)顆粒）
測(cè)量原理：動(dòng)態(tài)光背散射技術(shù)及米氏理論
技術(shù)：HDF，CRM，F(xiàn)FT，“Ｙ”型光纖光路設(shè)計(jì)，“非球形”顆粒校正選項(xiàng)，微電場(chǎng)設(shè)計(jì)技術(shù)
檢測(cè)角度：180o
濃度范圍：0.1ppm – 40wt%
分析時(shí)間：30-120 秒
光源：3mW 780nm 半導(dǎo)體光纖
樣品體積：0.2ml
操作軟件：兼容Windows 98, 2000,NT, XP等
標(biāo)準(zhǔn)：ISO 13321
環(huán)境溫度：10oC to 35oC
相對(duì)濕度：小于90%

主要特點(diǎn)
﹡ 的異相多譜勒頻移(Heterodyne Doppler Frequency Shifts)技術(shù)，比較傳統(tǒng)的多譜勒頻
移分析方法，獲得顆粒散射信號(hào)的強(qiáng)度高出幾個(gè)數(shù)量級(jí)，提高分析結(jié)果的可靠性
﹡ 的可控參比方法(CRM, Controlled Reference Method)，能精細(xì)分析多譜勒頻移產(chǎn)生的能
譜，確保分析的靈敏度
﹡ 超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設(shè)計(jì)，避免了多重散射現(xiàn)象，保證高濃度溶液中納米顆粒測(cè)
試的準(zhǔn)確性
﹡ *的“Y型”光纖光路系統(tǒng)，精確聚焦藍(lán)寶石測(cè)量窗口，有效消除雜散光對(duì)檢測(cè)器的負(fù)面影響

﹡ 的快速傅利葉變換算法(FFT，F(xiàn)ast Fourier Transform Algorithm Method)，迅速處理檢
測(cè)系統(tǒng)獲得的光譜，縮短分析時(shí)間
﹡ 引進(jìn)“非球形”顆粒概念對(duì)米氏理論計(jì)算的校正因素，內(nèi)置常用分析物質(zhì)光學(xué)數(shù)據(jù)庫(kù)，提
高顆粒粒度分布測(cè)試的準(zhǔn)確性
﹡ 符合甚至部分超過(guò)ISO 13321 激光粒度分析標(biāo)準(zhǔn)－納米分析部分
﹡ 符合甚至部分超過(guò)21 CFR PART 11 安全要求及FDA標(biāo)準(zhǔn)

儀器介紹
30多年來(lái)，Microtrac 公司一直致力于激光散射技術(shù)在顆粒粒度分布中的應(yīng)用。作為行業(yè)的先鋒，早在1990年，納米顆粒分析儀器，NPA引入由于顆粒在懸浮體系中的布朗運(yùn)動(dòng)而產(chǎn)生的能譜概念，利用
背散射(Back-scattered)和異相多譜勒頻移(Heterodyne Doppler Frequency Shifts)技術(shù)
，結(jié)合動(dòng)態(tài)光散射理論和*的數(shù)學(xué)處理模型，取代傳統(tǒng)的光子相關(guān)光譜(PCS,Photon Correlation Spectroscopy)方法，將分析范圍為延伸至0.003-6.5μm。隨著技術(shù)的發(fā)展，Microtrac 公司不斷完善其麾下的專(zhuān)業(yè)顆粒分析儀器，快速分析高濃度的納米顆粒，生化材料及膠體體系成為現(xiàn)實(shí)，成為眾多行業(yè)納米分析的參考儀器。
應(yīng)用領(lǐng)域：
有機(jī)聚和物和高分子研究，納米金屬和其他納米無(wú)機(jī)物，結(jié)晶分析，表面活性劑膠束大小，蛋白質(zhì)，甾體，DNA，RNA，極稀濃度或不宜稀釋高濃度的樣品分析。

關(guān)鍵詞：標(biāo)準(zhǔn) 顆粒分析儀

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