<用途及特點(diǎn)>
·該沖擊試驗(yàn)箱為待測(cè)品靜置之冷熱交替沖擊方式，廣泛使用于電子零組件測(cè)試，半導(dǎo)體，電子線路板，金屬化學(xué)，材料等測(cè)試設(shè)備。試驗(yàn)箱下部為低溫蓄冷區(qū)，上部為高溫蓄熱區(qū)，試件（待測(cè)品）放置在試驗(yàn)箱中部，高溫沖擊時(shí)，上風(fēng)門打開，形成高溫內(nèi)循環(huán)。低溫沖擊時(shí)，上風(fēng)門關(guān)閉，下風(fēng)門打開，形成低溫內(nèi)循環(huán)。
溫度沖擊試驗(yàn)箱DWC系列
<用途及特點(diǎn)>
·該沖擊試驗(yàn)箱為待測(cè)品靜置之冷熱交替沖擊方式，廣泛使用于電子零組件測(cè)試，半導(dǎo)體，電子線路板，金屬化學(xué)，材料等測(cè)試設(shè)備。試驗(yàn)箱下部為低溫蓄冷區(qū)，上部為高溫蓄熱區(qū)，試件（待測(cè)品）放置在試驗(yàn)箱中部，高溫沖擊時(shí)，上風(fēng)門打開，形成高溫內(nèi)循環(huán)。低溫沖擊時(shí)，上風(fēng)門關(guān)閉，下風(fēng)門打開，形成低溫內(nèi)循環(huán)。
該沖擊試驗(yàn)箱的zui大特點(diǎn)是：試件(待測(cè)品)靜止不動(dòng)，使用戶避免了因試件移動(dòng)帶來的諸多不便。
標(biāo)準(zhǔn)配置：φ50測(cè)試孔蓋個(gè)、照明燈一盞、記錄儀一臺(tái)；
選配部件：計(jì)算機(jī)通訊接口，工業(yè)Pc及控制軟件；
試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)：
GB2423.1-89試驗(yàn)A，
低溫試驗(yàn)方法．
GB2423.2-89試驗(yàn)B，
高溫試驗(yàn)方法
IEC68-2-1試驗(yàn)A
IEC68-2-2試驗(yàn)
BGJB1032-90環(huán)境應(yīng)力篩選方法
| 型 號(hào) | DWC | |
| 01 | 03 | |
| 溫度室范圍 | -60℃～+150℃(+200℃) | |
| 低溫室范圍 | -75℃～-10℃ | |
| 溫度沖擊范圍 | -40℃～80℃ | |
| 溫度波動(dòng)度 | ±0.5℃ | |
| 溫度均勻度 | ≤2℃ | |
| 溫度誤差 | ±3℃ | |
| 溫度恢復(fù)時(shí)間 | 5min | |
| 試驗(yàn)時(shí)間 | ≥30分鐘 | |
| 內(nèi)空尺寸（mm） | 500×500×450 | 700×700×640 |
| 功率（KW） | 12 | 25 |
| 電源 | 380V 50Hz | |
