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SAU999 X射線熒光測厚儀(膜厚儀)標準片

參考價
面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 型號SAU999
  • 品牌
  • 所在地上海市
  • 更新時間2015-08-05
  • 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
  • 入駐年限1
  • 實名認證已認證
  • 產(chǎn)品數(shù)量11
  • 人氣值189
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  上海樸維商貿(mào)有限公司以*進的商業(yè)模式為基礎,結合中國的實際情況,按行業(yè)類別分類,將對應行業(yè)實驗室及生產(chǎn)過程中在線檢測所用到的各類檢測儀器匯編在一起,與國內(nèi)外儀器廠商合作,能滿足您所有檢測項目的需要,我們專業(yè)的服務和勤奮的工作,不僅贏得了廣大用戶的信賴,同時也贏得了國內(nèi)外儀器及試劑供應商的合作與支持。目前我們是眾多品牌在中國的*一級代理,如美國Fisher,德國Merck,中國國藥,光華試劑,德國布朗盧比多參數(shù)水質(zhì)分析儀,德國Fischer測厚儀,日本電測,美國Walchem化學鎳(銅)在線分析儀,美國Thermo,美國哈希,美國米頓羅等。
  
  公司文化:
  
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  經(jīng)營項目:
  
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  我們將產(chǎn)品的質(zhì)量和服務放在*,同時我們也關注測試成本的節(jié)約,為您*Z佳性價比的產(chǎn)品和服務。我們的銷售和技術團隊會充分了解您的需求情況,熱情為您提供售前的咨詢和售后的服務。我們會定期開展一些專題講座,幫您提供更多的行業(yè)咨詢和專業(yè)知識。同時我們還可以充分利用我們的豐富資源,為您提供各類測試方法,標準的相關資料。
  
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膜厚儀(測厚儀)厚度測試 儀上用標準片,各種材質(zhì),*,歡迎選購!
X射線熒光測厚儀(膜厚儀)標準片
品牌:美國calmetrics


圖一、外觀
calmetrics是美國原廠制作標準片的專業(yè)認證公司,其專門為儀器大廠如Fischer(菲希爾)、Oxford(牛津)、Seiko(精工)、ELEC FINE (日本電測)Thermo(熱電)、Veeco、Micro Pioneer等生產(chǎn)制
X射線熒光測厚儀(膜厚儀)標準片 產(chǎn)品詳情

膜厚儀(測厚儀)厚度測試 儀上用標準片,各種材質(zhì),*,歡迎選購!
X射線熒光測厚儀(膜厚儀)標準片 
品牌:美國calmetrics

圖一、外觀
calmetrics是美國原廠制作標準片的專業(yè)認證公司,其專門為儀器大廠如Fischer(菲希爾)、Oxford(牛津)、Seiko(精工)、ELEC FINE (日本電測)Thermo(熱電)、Veeco、Micro Pioneer等生產(chǎn)制作標準樣品。
 
應用:適用于Fischer(菲希爾)、Oxford(牛津)、Seiko(精工)ELEC FINE (日本電測)、Thermo(熱電)、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各廠牌X-ray測厚儀(膜厚計) 
產(chǎn)品規(guī)格:
 
  
圖二、Ag標片
銀標片編號    規(guī)格說明
SILVER (Ag)     英制單位      公制單位
SAG4    4?”    0.10?m
SAG10    10?”    0.25?m
SAG40    40?”    1.00?m
SAG80    80?”    2.00?m
SAG200    200?”    5.00?m
SAG400    400?”    10.0?m
SAG800    800?”    20.0?m
SAG1200    1200?”    30.0?m
 
特色:標準片A2LA校正認證,質(zhì)量精良,精度高、穩(wěn)定性好;
       測厚儀標準片又名膜厚儀校準片,專業(yè)用于X射線測厚儀(膜厚儀)在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法,是測量已知厚度或組成的標準樣品,根據(jù)熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關系,來得到標準曲線。之后以此標準曲線來測量未知樣品,以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。
 
 
圖三、證書
     所有標準片都附有NIST認證證書我們可以根據(jù)客戶不同的金屬元素、鍍層結構及鍍層厚度等要求向美國工廠定做合格的標準片,并附有標準片厚度值證書.










X射線熒光測厚儀(膜厚儀)標準片 
品牌:美國calmetrics
calmetrics是美國原廠制作標準片的專業(yè)認證公司,其專門為儀器大廠如Fischer(菲希爾)、Oxford(牛津)、Seiko(精工)、ELEC FINE (日本電測)Thermo(熱電)、Veeco、Micro Pioneer等生產(chǎn)制作標準樣品。
應用:適用于Fischer(菲希爾)、Oxford(牛津)、Seiko(精工)ELEC FINE (日本電測)、Thermo(熱電)、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各廠牌X-ray測厚儀(膜厚計)。
 
特色:標準片A2LA校正認證,質(zhì)量精良,精度高、穩(wěn)定性好;
       測厚儀標準片又名膜厚儀校準片,專業(yè)用于X射線測厚儀(膜厚儀)在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法,是測量已知厚度或組成的標準樣品,根據(jù)熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關系,來得到標準曲線。之后以此標準曲線來測量未知樣品,以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。
     所有標準片都附有NIST認證證書我們可以根據(jù)客戶不同的金屬元素、鍍層結構及鍍層厚度等要求向美國工廠定做合格的標準片,并附有標準片厚度值證書.
NiP,8%P    英制單位    公制單位    
SNIP100-92    100?”    2.50?m    
SNIP240-92    240?”    6.00?m    
SNIP360-92    360?”    9.00?m    
SNIP720-92    720?”    18.0?m    
            








美國Calmetrics Ni/Cu型銅上鍍鎳標準片
可制作厚度:0.5-25um

以下為常見性厚度:
CSNI40CU999 Ni/Cu 40u" (1.00um)
CSNI80CU999 Ni/Cu 80u" (2.00um)
CSNI100CU999 Ni/Cu 100u" (0.25um)
CSNI200CU999 Ni/Cu 200u" (5.00um)
CSNI400CU999 Ni/Cu 400u" (10.0um)
CSNI800CU999 Ni/Cu 800u" (20.0um
美國Calmetrics XRF鍍層標準片 每片厚度均通過美國國家標準與技術研究院(National Institute of Standards and Technology,NIST)鑒定機構認證(有證書),其專門為儀器大廠如Fischer、Oxford、Thermo、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等生產(chǎn)制作標準樣品。 
應用    底材    可制作范圍
Ag/Cu    銅    20-2000uin
Au/KVR    可伐    1-300uin
Au/Ni    鎳    1-300uin
Cd/Fe    鐵    20-1200uin
Cu/Fe    鐵    20-1200uin
Cr/Fe    鐵    20-800uin
Ni-P/Al    鋁  

膜厚儀(測厚儀)厚度測試 儀上用標準片,各種材質(zhì),*,歡迎選購!

X射線熒光測厚儀(膜厚儀)標準片 

品牌:美國calmetrics



圖一、外觀

calmetrics是美國原廠制作標準片的專業(yè)認證公司,其專門為儀器大廠如Fischer(菲希爾)、Oxford(牛津)、Seiko(精工)、ELEC FINE (日本電測)Thermo(熱電)、Veeco、Micro Pioneer等生產(chǎn)制作標準樣品。


應用適用于Fischer(菲希爾)、Oxford(牛津)、Seiko(精工)ELEC FINE (日本電測)、Thermo(熱電)、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各廠牌X-ray測厚儀(膜厚計) 

產(chǎn)品規(guī)格:


 
圖二、Ag標片

銀標片編號

規(guī)格說明

SILVER (Ag)

 英制單位 

 公制單位

SAG4

4m

0.10mm

SAG10

10m

0.25mm

SAG40

40m

1.00mm

SAG80

80m

2.00mm

SAG200

200m

5.00mm

SAG400

400m

10.0mm

SAG800

800m

20.0mm

SAG1200

1200m

30.0mm


特色:標準片A2LA校正認證,質(zhì)量精良,精度高、穩(wěn)定性好;

       測厚儀標準片又名膜厚儀校準片,專業(yè)用于X射線測厚儀(膜厚儀)在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法,是測量已知厚度或組成的標準樣品,根據(jù)熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關系,來得到標準曲線。之后以此標準曲線來測量未知樣品,以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。



圖三、證書

     所有標準片都附有NIST認證證書我們可以根據(jù)客戶不同的金屬元素、鍍層結構及鍍層厚度等要求向美國工廠定做合格的標準片,并附有標準片厚度值證書.



















X射線熒光測厚儀(膜厚儀)標準片 

品牌:美國calmetrics

calmetrics是美國原廠制作標準片的專業(yè)認證公司,其專門為儀器大廠如Fischer(菲希爾)、Oxford(牛津)、Seiko(精工)、ELEC FINE (日本電測)Thermo(熱電)、VeecoMicro Pioneer等生產(chǎn)制作標準樣品。

應用:適用于Fischer(菲希爾)Oxford(牛津)、Seiko(精工)ELEC FINE (日本電測)、Thermo(熱電)、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各廠牌X-ray測厚儀(膜厚計)。


特色:標準片A2LA校正認證,質(zhì)量精良,精度高、穩(wěn)定性好;

       測厚儀標準片又名膜厚儀校準片,專業(yè)用于X射線測厚儀(膜厚儀)在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法,是測量已知厚度或組成的標準樣品,根據(jù)熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關系,來得到標準曲線。之后以此標準曲線來測量未知樣品,以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。

     所有標準片都附有NIST認證證書我們可以根據(jù)客戶不同的金屬元素、鍍層結構及鍍層厚度等要求向美國工廠定做合格的標準片,并附有標準片厚度值證書.

NiP,8%P

英制單位

公制單位


SNIP100-92

100m

2.50mm


SNIP240-92

240m

6.00mm


SNIP360-92

360m

9.00mm


SNIP720-92

720m

18.0mm





















美國Calmetrics Ni/Cu型銅上鍍鎳標準片

可制作厚度:0.5-25um

以下為常見性厚度:
CSNI40CU999 Ni/Cu 40u" (1.00um)
CSNI80CU999 Ni/Cu 80u" (2.00um)
CSNI100CU999 Ni/Cu 100u" (0.25um)
CSNI200CU999 Ni/Cu 200u" (5.00um)
CSNI400CU999 Ni/Cu 400u" (10.0um)
CSNI800CU999 Ni/Cu 800u" (20.0um

美國Calmetrics XRF鍍層標準片 每片厚度均通過美國國家標準與技術研究院(National Institute of Standards and Technology,NIST)鑒定機構認證(有證書),其專門為儀器大廠如Fischer、Oxford、Thermo、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等生產(chǎn)制作標準樣品。 

應用

底材

可制作范圍

Ag/Cu

20-2000uin

Au/KVR

可伐

1-300uin

Au/Ni

1-300uin

Cd/Fe

20-1200uin

Cu/Fe

20-1200uin

Cr/Fe

20-800uin

Ni-P/Al

20-800uin

Ni-P/Cu

20-800uin

Ni-P/Fe

20-800uin

Ni-P/KVR

可伐

20-800uin

Ni/Cu

20-1000uin

Ni/Fe

20-1200uin

Ni/Kvr

可伐

20-1000uin

Pd/Ni

5-250uin

Rh/Ni

4-200uin

Sn/Cu

40-2500uin

Zn/Fe

20-1300uin



 20-800uin
Ni-P/Cu    銅    20-800uin
Ni-P/Fe    鐵    20-800uin
Ni-P/KVR    可伐    20-800uin
Ni/Cu    銅    20-1000uin
Ni/Fe    鐵    20-1200uin
Ni/Kvr    可伐    20-1000uin
Pd/Ni    鎳    5-250uin
Rh/Ni    鎳    4-200uin
Sn/Cu    銅    40-2500uin
Zn/Fe    鐵    20-1300uin


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