膜厚儀(測厚儀)厚度測試 儀上用標準片,各種材質(zhì),*,歡迎選購!
X射線熒光測厚儀(膜厚儀)標準片
品牌:美國calmetrics
圖一、外觀
calmetrics是美國原廠制作標準片的專業(yè)認證公司,其專門為儀器大廠如Fischer(菲希爾)、Oxford(牛津)、Seiko(精工)、ELEC FINE (日本電測)Thermo(熱電)、Veeco、Micro Pioneer等生產(chǎn)制作標準樣品。
應用:適用于Fischer(菲希爾)、Oxford(牛津)、Seiko(精工)ELEC FINE (日本電測)、Thermo(熱電)、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各廠牌X-ray測厚儀(膜厚計)
產(chǎn)品規(guī)格:
圖二、Ag標片
銀標片編號 規(guī)格說明
SILVER (Ag) 英制單位 公制單位
SAG4 4?” 0.10?m
SAG10 10?” 0.25?m
SAG40 40?” 1.00?m
SAG80 80?” 2.00?m
SAG200 200?” 5.00?m
SAG400 400?” 10.0?m
SAG800 800?” 20.0?m
SAG1200 1200?” 30.0?m
特色:標準片A2LA校正認證,質(zhì)量精良,精度高、穩(wěn)定性好;
測厚儀標準片又名膜厚儀校準片,專業(yè)用于X射線測厚儀(膜厚儀)在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法,是測量已知厚度或組成的標準樣品,根據(jù)熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關系,來得到標準曲線。之后以此標準曲線來測量未知樣品,以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。
圖三、證書
所有標準片都附有NIST認證證書我們可以根據(jù)客戶不同的金屬元素、鍍層結構及鍍層厚度等要求向美國工廠定做合格的標準片,并附有標準片厚度值證書.
X射線熒光測厚儀(膜厚儀)標準片
品牌:美國calmetrics
calmetrics是美國原廠制作標準片的專業(yè)認證公司,其專門為儀器大廠如Fischer(菲希爾)、Oxford(牛津)、Seiko(精工)、ELEC FINE (日本電測)Thermo(熱電)、Veeco、Micro Pioneer等生產(chǎn)制作標準樣品。
應用:適用于Fischer(菲希爾)、Oxford(牛津)、Seiko(精工)ELEC FINE (日本電測)、Thermo(熱電)、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各廠牌X-ray測厚儀(膜厚計)。
特色:標準片A2LA校正認證,質(zhì)量精良,精度高、穩(wěn)定性好;
測厚儀標準片又名膜厚儀校準片,專業(yè)用于X射線測厚儀(膜厚儀)在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法,是測量已知厚度或組成的標準樣品,根據(jù)熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關系,來得到標準曲線。之后以此標準曲線來測量未知樣品,以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。
所有標準片都附有NIST認證證書我們可以根據(jù)客戶不同的金屬元素、鍍層結構及鍍層厚度等要求向美國工廠定做合格的標準片,并附有標準片厚度值證書.
NiP,8%P 英制單位 公制單位
SNIP100-92 100?” 2.50?m
SNIP240-92 240?” 6.00?m
SNIP360-92 360?” 9.00?m
SNIP720-92 720?” 18.0?m
美國Calmetrics Ni/Cu型銅上鍍鎳標準片
可制作厚度:0.5-25um
以下為常見性厚度:
CSNI40CU999 Ni/Cu 40u" (1.00um)
CSNI80CU999 Ni/Cu 80u" (2.00um)
CSNI100CU999 Ni/Cu 100u" (0.25um)
CSNI200CU999 Ni/Cu 200u" (5.00um)
CSNI400CU999 Ni/Cu 400u" (10.0um)
CSNI800CU999 Ni/Cu 800u" (20.0um
美國Calmetrics XRF鍍層標準片 每片厚度均通過美國國家標準與技術研究院(National Institute of Standards and Technology,NIST)鑒定機構認證(有證書),其專門為儀器大廠如Fischer、Oxford、Thermo、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等生產(chǎn)制作標準樣品。
應用 底材 可制作范圍
Ag/Cu 銅 20-2000uin
Au/KVR 可伐 1-300uin
Au/Ni 鎳 1-300uin
Cd/Fe 鐵 20-1200uin
Cu/Fe 鐵 20-1200uin
Cr/Fe 鐵 20-800uin
Ni-P/Al 鋁
膜厚儀(測厚儀)厚度測試 儀上用標準片,各種材質(zhì),*,歡迎選購!
X射線熒光測厚儀(膜厚儀)標準片
品牌:美國calmetrics
圖一、外觀
calmetrics是美國原廠制作標準片的專業(yè)認證公司,其專門為儀器大廠如Fischer(菲希爾)、Oxford(牛津)、Seiko(精工)、ELEC FINE (日本電測)Thermo(熱電)、Veeco、Micro Pioneer等生產(chǎn)制作標準樣品。
應用:適用于Fischer(菲希爾)、Oxford(牛津)、Seiko(精工)ELEC FINE (日本電測)、Thermo(熱電)、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各廠牌X-ray測厚儀(膜厚計)
產(chǎn)品規(guī)格:
圖二、Ag標片
銀標片編號 | 規(guī)格說明 | |
SILVER (Ag) | 英制單位 | 公制單位 |
SAG4 | 4m” | 0.10mm |
SAG10 | 10m” | 0.25mm |
SAG40 | 40m” | 1.00mm |
SAG80 | 80m” | 2.00mm |
SAG200 | 200m” | 5.00mm |
SAG400 | 400m” | 10.0mm |
SAG800 | 800m” | 20.0mm |
SAG1200 | 1200m” | 30.0mm |
特色:標準片A2LA校正認證,質(zhì)量精良,精度高、穩(wěn)定性好;
測厚儀標準片又名膜厚儀校準片,專業(yè)用于X射線測厚儀(膜厚儀)在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法,是測量已知厚度或組成的標準樣品,根據(jù)熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關系,來得到標準曲線。之后以此標準曲線來測量未知樣品,以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。
圖三、證書
所有標準片都附有NIST認證證書我們可以根據(jù)客戶不同的金屬元素、鍍層結構及鍍層厚度等要求向美國工廠定做合格的標準片,并附有標準片厚度值證書.
X射線熒光測厚儀(膜厚儀)標準片
品牌:美國calmetrics
calmetrics是美國原廠制作標準片的專業(yè)認證公司,其專門為儀器大廠如Fischer(菲希爾)、Oxford(牛津)、Seiko(精工)、ELEC FINE (日本電測)Thermo(熱電)、Veeco、Micro Pioneer等生產(chǎn)制作標準樣品。
應用:適用于Fischer(菲希爾)、Oxford(牛津)、Seiko(精工)ELEC FINE (日本電測)、Thermo(熱電)、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各廠牌X-ray測厚儀(膜厚計)。
特色:標準片A2LA校正認證,質(zhì)量精良,精度高、穩(wěn)定性好;
測厚儀標準片又名膜厚儀校準片,專業(yè)用于X射線測厚儀(膜厚儀)在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法,是測量已知厚度或組成的標準樣品,根據(jù)熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關系,來得到標準曲線。之后以此標準曲線來測量未知樣品,以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。
所有標準片都附有NIST認證證書我們可以根據(jù)客戶不同的金屬元素、鍍層結構及鍍層厚度等要求向美國工廠定做合格的標準片,并附有標準片厚度值證書.
NiP,8%P | 英制單位 | 公制單位 | |
SNIP100-92 | 100m” | 2.50mm | |
SNIP240-92 | 240m” | 6.00mm | |
SNIP360-92 | 360m” | 9.00mm | |
SNIP720-92 | 720m” | 18.0mm | |
美國Calmetrics Ni/Cu型銅上鍍鎳標準片
可制作厚度:0.5-25um
以下為常見性厚度:
CSNI40CU999 Ni/Cu 40u" (1.00um)
CSNI80CU999 Ni/Cu 80u" (2.00um)
CSNI100CU999 Ni/Cu 100u" (0.25um)
CSNI200CU999 Ni/Cu 200u" (5.00um)
CSNI400CU999 Ni/Cu 400u" (10.0um)
CSNI800CU999 Ni/Cu 800u" (20.0um
美國Calmetrics XRF鍍層標準片 每片厚度均通過美國國家標準與技術研究院(National Institute of Standards and Technology,NIST)鑒定機構認證(有證書),其專門為儀器大廠如Fischer、Oxford、Thermo、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等生產(chǎn)制作標準樣品。
應用 | 底材 | 可制作范圍 |
Ag/Cu | 銅 | 20-2000uin |
Au/KVR | 可伐 | 1-300uin |
Au/Ni | 鎳 | 1-300uin |
Cd/Fe | 鐵 | 20-1200uin |
Cu/Fe | 鐵 | 20-1200uin |
Cr/Fe | 鐵 | 20-800uin |
Ni-P/Al | 鋁 | 20-800uin |
Ni-P/Cu | 銅 | 20-800uin |
Ni-P/Fe | 鐵 | 20-800uin |
Ni-P/KVR | 可伐 | 20-800uin |
Ni/Cu | 銅 | 20-1000uin |
Ni/Fe | 鐵 | 20-1200uin |
Ni/Kvr | 可伐 | 20-1000uin |
Pd/Ni | 鎳 | 5-250uin |
Rh/Ni | 鎳 | 4-200uin |
Sn/Cu | 銅 | 40-2500uin |
Zn/Fe | 鐵 | 20-1300uin |
20-800uin
Ni-P/Cu 銅 20-800uin
Ni-P/Fe 鐵 20-800uin
Ni-P/KVR 可伐 20-800uin
Ni/Cu 銅 20-1000uin
Ni/Fe 鐵 20-1200uin
Ni/Kvr 可伐 20-1000uin
Pd/Ni 鎳 5-250uin
Rh/Ni 鎳 4-200uin
Sn/Cu 銅 40-2500uin
Zn/Fe 鐵 20-1300uin