SUNMENTA 光柵數字控制器（PDG）-儀表網

關于索恩達

　　深圳市索恩達電子有限公司是三維微距測量領域的創(chuàng)新者，專注于三維核心部件研發(fā)與設計。

　　索恩達是一家三維檢測測量方案商，服務于專業(yè)領域的三維測試設備,是一家以技術為依托的研發(fā)型高科技公司，國家*，軟件企業(yè)，通過了ISO9001質量認證，擁有數十項發(fā)明**及軟件著作權。公司位于深圳市寶安區(qū)西鄉(xiāng)黃田廣宇工業(yè)園一棟一、二層,專業(yè)從事測量與檢測，機器視覺等相關方面的技術核心部件的研發(fā)，行業(yè)應用于SMT（SPI/AOI/鋼網檢測）電子、半導體IC封裝、BGA焊接、印刷設備等快速檢測，先后與世界企業(yè)及高校進行合作，分別與韓國Namkang公司、*上海光學研究所及清華大學研究院深圳實驗基地進行密切合作,成功研發(fā)了三維非接觸式微距測量系統進行廣泛使用。公司始終本著“科技創(chuàng)新、以人為本”，以其*的專業(yè)技術、高質量的管理水平、為客戶提供優(yōu)質的產品及服務。

索恩達以開放的精神與客戶密切合作，積極探索行業(yè)新技術，未來目標成為*的三維芯片方案供應商的商業(yè)模式，為三維測量做出貢獻力量。

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產品簡介在線詢價

線位移光柵傳感器數顯系統主要應用于直線移動導軌機構，可實現移動量的精確顯示和自動控制，已廣泛應用于機床加工和儀器的精密測量。品種齊全，制作精巧，技術精良，可供不同規(guī)格的各類機床、儀器數字化改造選用，還可根據用戶的特殊需要進行特殊制作。光柵數字控制器（PDG）,光柵控制器供應商,光柵控制器廠家

光柵數字控制器（PDG）產品詳情

光柵數字控制器（PDG）,光柵控制器供應商,光柵控制器廠家

為精準而設計

“高速三維數字光柵控制器”憑借PDG自動光柵控制技術、PMP輪廓測試技術為錫膏印刷、微電子元器件提供高精度的三維和二維測量。內部結構模塊化設計，實現了高集成，簡單化，有利于各種應用及設備維護。

光柵數字控制器（PDG）,光柵控制器供應商,光柵控制器廠家功能特點

PDG可編程全光譜結構光柵世界*的可編程光柵(PDG)技術形成全光譜結構光柵，實現了對結構光柵的軟件調制及控制，提高了設備的檢測能力和適用范圍。
PMP調制輪廓測量技術運用*的相位輪廓調制測量技術(PMP)，8比特的灰階分辨率，達到0.37微米的檢測分辨率。對焊膏印刷進行高精度的三維和二維測量。	3維及2維測量自動檢測所有需要檢測的物體的體積，面積、高度、XY位置形狀不良等工藝缺陷。

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克服反射率的差異
同步漫反射技術（DL）完*焊膏的結構陰影和亮點干擾。

高精度工業(yè)數字相機
配合500萬像素的高精度工業(yè)數字相機，確保了世界zui快的檢測速度。

*的穩(wěn)定性
控制器由可編程控制器、數字光柵、影像系統組成。

應用于SPI焊膏檢測

SPI 解決焊膏缺陷，包括體積、面積、高度、XY偏移、形狀，漏印、少錫、多錫、高度偏高、高度偏低、連錫、偏位、形狀不良。

應用于焊膏印刷

印刷機與SGO-500三維數字光柵控制器(PDG)組合，快速提升3大優(yōu)勢：

降低成本
產品合并后價格直接下調25%。

提高產品檢測自控能力
形成真正的閉環(huán)控制，通過印刷后檢測結果，自動對印刷機優(yōu)化和調整。

自行組合，誤判、識別錯誤
快速模塊化組合，根據客戶來做檢測裝置選配及持續(xù)升級。

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應用于AOI自動光學檢測

3D AOI 創(chuàng)新技術解決了現有 2D AOI 無法解決的瓶頸。利用3維測量核心技術，不受密腳距、透明度、顏色、陰影等周圍環(huán)境及元器件特性的影響，在原有的2D-AOI基礎上快速提升檢測能力。

軟件系統

“sunmenta圖像分析軟件”滿足您的真正需求
“sunmenta圖像分析模塊軟件為您提供各項標準通信接口，為你的二次開發(fā)應用提供方便，只需簡調用即可應用，其全面的功能讓獲取圖像、使用濾鏡、測量處理和分析成為簡單的流程。用戶可以輕松快速地進行參數控制。

SGO-500的技術參數

測量原理	Measurement Principle	3D 白光 PMP PDG（可編程數字光柵）
測量項目	Measurements	體積、面積、高度、XY偏移、形狀,輪廓
檢測不良類型	Detection of non- performing types	漏印、少錫、多錫、高度偏高、高度偏低、連錫、偏位、形狀不良
相機	Camera	500萬像素
FOV尺寸	FOV size	48×34mm
精度	Accuracy	高精度：±1μm
分辨率	Resolution	XY方向：10μm Z軸：0.37um
PDG控制器	45度可變光柵	單投影
重復精度	Repeatability	體積：小于1%（4 Sigma) 高度：小于1μm(4 Sigma), 面積：小于1%（5 Sigma)
Gage R＆R	Gage R＆R	＜＜10%（6 Sigma）
檢測速度	Detection Speed	高精度模式：小于0.5秒/FOV
Mark點檢測時間	Mark-point detection time	0.5秒/個
zui大測量高度	Maximum Measuring height	700μm(2000) μm
彎曲PCBzui 大測量高度	Maximum Measuring height of PCB warp	±5mm
zui小焊盤間距	Minimum pad spacing	100μm
zui小測量大小	Smallest size measurement	長方形：150μm(5.9 mils), 圓形：200μm(7.87 mils)
工程統計數據	Engineering Statistics	Histogram, Xbar-R Chart, Xbar-S Chart,Cp & Cpk, % Gage Repeatability Data,SPI Daily/Weekly/Monthly Reports
讀取檢測位置	Read position Detection	支持Gerber Format(274x, 274d)格式，人工Teach模式
操作系統支持	Operating system support	Windows^?XP Professional ＆windows^?7 professional
電源	Power	200-240VAC,50/60HZ單相

SGO-500D的技術參數

測量原理	Measurement Principle	3D 白光 PMP PDG（可編程數字光柵）
測量項目	Measurements	體積、面積、高度、XY偏移、形狀,輪廓
檢測不良類型	Detection of non- performing types	漏印、少錫、多錫、高度偏高、高度偏低、連錫、偏位、形狀不良
相機	Camera	500萬像素
FOV尺寸	FOV size	48×34mm
精度	Accuracy	高精度：±1μm
分辨率	Resolution	XY方向：10μm Z軸：0.37um
PDG控制器	45度可變光柵	雙投影（快速解決陰影效果問題）
重復精度	Repeatability	體積：小于1%（4 Sigma) 高度：小于1μm(4 Sigma), 面積：小于1%（5 Sigma)
Gage R＆R	Gage R＆R	＜＜10%（6 Sigma）
檢測速度	Detection Speed	高精度模式：小于0.5秒/FOV
Mark點檢測時間	Mark-point detection time	0.5秒/個
zui大測量高度	Maximum Measuring height	700μm(2000) μm
彎曲PCBzui 大測量高度	Maximum Measuring height of PCB warp	±5mm
zui小焊盤間距	Minimum pad spacing	100μm
zui小測量大小	Smallest size measurement	長方形：150μm(5.9 mils), 圓形：200μm(7.87 mils)
工程統計數據	Engineering Statistics	Histogram, Xbar-R Chart, Xbar-S Chart,Cp & Cpk, % Gage Repeatability Data,SPI Daily/Weekly/Monthly Reports
讀取檢測位置	Read position Detection	支持Gerber Format(274x, 274d)格式，人工Teach模式
操作系統支持	Operating system support	Windows^?XP Professional ＆windows^?7 professional
電源	Power	200-240VAC,50/60HZ單相

：賴

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地址：深圳南山區(qū)高新區(qū)中區(qū)科技中二路軟件園一期一棟201室

www.sunmenta。。ｃｏｍ

關鍵詞：電子元器件可編程控制器印刷機標準

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