固體介質(zhì)折射率測(cè)定儀 型號(hào)；HAD-FD-OE-3
折射率是反映介質(zhì)光學(xué)性質(zhì)的重要參數(shù)之一。本儀器采用的實(shí)驗(yàn)方法，在光學(xué)測(cè)量中具有典型性和基本要求的特點(diǎn)。用測(cè)布儒斯特角的方法測(cè)量透明介質(zhì)的折射率及利用測(cè)量激光照射半導(dǎo)體薄片的反射系數(shù)方法，測(cè)量部分半導(dǎo)體如硅、砷化鎵等介質(zhì)的折射率。本儀器具有體積小，重量輕，調(diào)節(jié)方便，裝置牢靠，實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)穩(wěn)定可靠等優(yōu)點(diǎn)。本儀器可用于基礎(chǔ)物理實(shí)驗(yàn)，設(shè)計(jì)性與研究性
固體介質(zhì)折射率測(cè)定儀 型號(hào)；HAD-FD-OE-3
折射率是反映介質(zhì)光學(xué)性質(zhì)的重要參數(shù)之一。本儀器采用的實(shí)驗(yàn)方法，在光學(xué)測(cè)量中具有典型性和基本要求的特點(diǎn)。用測(cè)布儒斯特角的方法測(cè)量透明介質(zhì)的折射率及利用測(cè)量激光照射半導(dǎo)體薄片的反射系數(shù)方法，測(cè)量部分半導(dǎo)體如硅、砷化鎵等介質(zhì)的折射率。本儀器具有體積小，重量輕，調(diào)節(jié)方便，裝置牢靠，實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)穩(wěn)定可靠等優(yōu)點(diǎn)。本儀器可用于基礎(chǔ)物理實(shí)驗(yàn)，設(shè)計(jì)性與研究性物理實(shí)驗(yàn)及物理奧林匹克競(jìng)賽培訓(xùn)實(shí)驗(yàn)用。本儀器具有以下優(yōu)點(diǎn)：
1.采用高強(qiáng)度優(yōu)質(zhì)鋁合金材料制成，表面經(jīng)陽(yáng)極氧化處理 ,儀器重量輕、體積小、耐用、不會(huì)生銹，使用壽命長(zhǎng)。
2.帶有刻度的轉(zhuǎn)盤(pán)經(jīng)精心設(shè)計(jì)和加工，轉(zhuǎn)動(dòng)輕巧靈活，讀數(shù)準(zhǔn)確。
3.采用數(shù)字式光功率計(jì)測(cè)量偏振光光強(qiáng)，測(cè)量結(jié)果穩(wěn)定可靠。
4.有黑色遮光罩擋光，可在明光及通風(fēng)條件下做光學(xué)實(shí)驗(yàn)，在同一實(shí)驗(yàn)室各組實(shí)驗(yàn)互不干擾。
應(yīng)用本儀器可以完成以下實(shí)驗(yàn)：
1. 光的偏振現(xiàn)象的觀察和分析，加深對(duì)光偏振規(guī)律的認(rèn)識(shí)。掌握獲得線偏振光的知識(shí)及確定偏振片偏振方向的方法。
2. 用布儒斯特定律，測(cè)量對(duì)可見(jiàn)光透明固體材料的折射率。
3．通過(guò)測(cè)量偏振光二個(gè)分量入射到介質(zhì)上反射光的反射系數(shù)，測(cè)量半導(dǎo)體硅等材料的折射率。
儀器主要技術(shù)參數(shù)：
1. 半導(dǎo)體激光器 波長(zhǎng)650nm，功率 1.5-2.0mW，工作電壓3V。
2. 轉(zhuǎn)盤(pán) 直徑為2.0cm，可調(diào)范圍0-360°，分度值1°。
3．水平光學(xué)轉(zhuǎn)臺(tái) 可 0-360゜轉(zhuǎn)動(dòng)，分度值 1°。
4．?dāng)?shù)字式光功率計(jì) 量程有200uW和2mW二檔，三位半液晶顯示。www.51658042。。ｃｏｍ
