安捷倫（agilent） 安捷倫 4263B LCR測試儀 產(chǎn)品介紹和特性如下：
基本精度為0.1%
測試頻率為100Hz、120Hz、1kHz、10kHz、100kHz
量程為20mV～1Vrms,以5mVrms分檔
具有測試信號電平監(jiān)視功能
高速測量:25ms
高速接觸檢查
大的電容測試量程
變壓器參數(shù)測量（供選用）
Alilent 4263B LCR測試儀是Agilent公司生產(chǎn)的zui價廉物美的低檔LCR測試儀，供生產(chǎn)線上的元件評估和實驗室中的基本阻抗測試使用。4263B具有能在正確狀態(tài)下對測試進行模擬的5個測試頻率，即100Hz，120Hz，1kHz和100kHz。在這5個頻率之外還可增添供選用的20kHz測試頻率（選件002）。
高速測量
Agilent 4263B依靠在任何測試頻率上都有25ms的測量速度來提高一產(chǎn)率，這種能力提高了電解電容順和變壓器測試的效率，4263B能檢查測試端子與被測件（DUT）之間的接觸狀況，這種功能保證在生產(chǎn)中用自動處理器進行合格。不合格的測試的可靠性，有故障的被測件一旦從處理器中取去該儀器便能立即恢復(fù)正常工作，因此處理器始終能以zui高速度工作。
電解電容器測量
Ailent 4263B的精度和寬的測量范圍是對電解電容器進行精密測量的很好保證。充電后的電容器可能經(jīng)常端放電，從而使儀器損壞。4263B的前端設(shè)計考慮了保護作用，能保持測試正常進行。
變壓器參數(shù)測量
由于Ailent 4263B能進行匝數(shù)比（N），互感（M）和直流電阻（DCR）測量，故數(shù)據(jù)計算和改變測試裝置不再是費時的工作（選件001）靈活的信號電平高速和電壓、電流監(jiān)視功能使4263B特別適用于測量與電平有關(guān)的被測件，始磁芯電感器。
技術(shù)指標(biāo)：
| 測量功能 | ||
| 測量參數(shù) | |Z|,|Y|,θ,R,X,G,B,L,C,Q,D,ESR | |
| 選件001 | 增加DCR（直流電阻），N（匝數(shù)比）和M（互感）測量 | |
| 測量電路形式 | 串聯(lián)和并聯(lián) | |
| 數(shù)學(xué)功能 | 偏差和百分偏差 | |
| 測試電纜長度 | 0m,1m,2m,4m,（頻率=100/120/1kHz）;0m,1m,2m（頻率=10kHz/20kHz）;0m,1m（頻率=100kHz） | |
| 測試信號數(shù)據(jù) | ||
| 測試頻率 | 100Hz,120Hz,1kHz,10kHz和100kHz | |
| 選件002 | 增加20kHz測試頻率 | |
| 頻率精度 | ±0.01%（頻率=100Hz,1kHz,10kHz,20kHz,100kHz）,±（10%+10mV） | |
| 輸出阻抗 | 100Ω±10%,25Ω±10%（≤1Ω量程） | |
| 交流測試信號電平 | 20mV~1Vrms,以5mVrms分檔 | |
| 精度 | ±（10%+10mV） | |
| 內(nèi)部直流偏置 | ||
| 電平 | 1.5和2V；精度：±（5%+2mV） | |
| 外部直流偏置 | 0~+2.5V | |
| 測量范圍 | 參數(shù) | 測量范圍 |
| |Z|,R,X | 1mΩ-100MΩ | |
| |Y|,G,B | 10nS-1000S | |
| C | 1pF-1F | |
| L | 10nH-100kH | |
| D | 0.0001-9.9999 | |
| Q | 0.1-9999.9 | |
| θ | -180°~+180° | |
| DCR | 1mΩ-100MΩ | |
| N | 0.9-200（待定） | |
| L,M | 1μH-100H（待定） | |
| Δ% | -999.99%-+999.99% | |
| 測量精度： | ±0.1%（基本精度）（適用于|Z|,R,X,|Y|,G,B,CL） | |
| 測量時間 | ||
| 模式 | 時間（典型值） | |
| 短 | 25ms | |
| 中等 | 65ms | |
| 長 | 500ms | |
| 測試信號電平監(jiān)視器： | 電壓和電流 | |
| 前端保護： | 當(dāng)充電電容器連接到輸入端時內(nèi)部電路便函起保護作用。zui大電容器電壓為；在 Vmax≤250V時，Vmax=√（8/C）（典型值）；在Vmax≤1000V時，Vmax=√（2/C）（典型值），C單位為F。 | |
| 顯示數(shù)字： | 3，4或5位（可選擇） | |
| 修正功能： | ||
| 開路/短路誤差為0： | 消除由測量夾具中雜散寄生阻抗引起的測量誤差 | |
| 負載： | 利用一個已校器件作為參考來改善測量的精度 | |
| 比較功能： | 對每個一次測量參數(shù)和二次測量參數(shù)給出高/符合/低（HEGH/IN/LOW）比較結(jié)果 | |
| 接觸檢查功能： | 可以檢測測試夾具與器件之間的接觸故障。接觸檢查的附加時間為5ms | |
| 其它功能 | ||
| 存儲/調(diào)用： | 可以存儲和從內(nèi)部非易失存儲器調(diào)用10個儀器設(shè)置 | |
| 連續(xù)存儲功能： | 若儀器補關(guān)斷或出現(xiàn)電源故障。儀器設(shè)置（直流偏置接通/切斷除外）將自動被存儲起來（在23°±5℃下≦72小時） | |
| GPIB接口 | 所有控制設(shè)置，被測值和比較器信息 | |
| 處理器接口 | 所有輸出信號均為負邏輯，光隔離的開路集電極。輸出信號包括HIGH/IN/LOW，不接觸，序號，測量結(jié)束和報警。輸入信號包括鍵鎖定和外觸發(fā) | |
