鍍層測厚儀儀器附件探測器

應用CMI900X射線熒光鍍層測厚儀，有著非破壞，非接觸，多層合金測量，高生產(chǎn)力，高再現(xiàn)性等優(yōu)點的情況下進行表面鍍層厚度的測量  ，從質(zhì)量管理到成本節(jié)約有著廣泛的應用。

鍍層測厚儀儀器附件探測器銅厚測量范圍：

化學銅：0.25μm–12.7μm（10μin–500μin）

電鍍銅：2.5μm–152μm（0.1mil–6mil）

線形銅可測試線寬范圍：203μm–6350μm（8mil–250mil）

準確度：±5%參考標準片

精確度：化學銅：標準差0.2%；

電鍍銅：標準差0.3%；

分辨率：0.01mils≥1 mil，0.001mils<1mil，0.1μm≥10μm，0.01μm<10μm，0.001μm<1μm

鍍層測厚儀儀器附件探測器

－基本分析功能                   采用基本參數(shù)法校正。牛津儀器將根據(jù)您的應用提供必要的校正用標準樣品。
 
樣品種類：                          鍍層、涂層、薄膜、液體（鍍液中的元素含量）
 
                                         可檢測元素范圍：Ti22 – U92
 
                                         可同時測定5層/15種元素/共存元素校正
 
                                         貴金屬檢測，如Au karat評價
 
                                         材料和合金元素分析，
 
                                         材料鑒別和分類檢測
 
                                         液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量
 
                                         多達4個樣品的光譜同時顯示和比較