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慶祝華為技術(shù)有限公司采購我司低頻介電常數(shù)測試儀

本文來源:北京縱橫金鼎儀器設(shè)備有限公司 >>進(jìn)入該公司展臺,轉(zhuǎn)載請注明出處
企業(yè)新聞2023年06月27日 08:39人氣:77

華為技術(shù)人員和我司溝通采購介電常數(shù)采購項目,經(jīng)過長達(dá)2個月的溝通終于確定了下來


LJD低頻絕緣材料電常數(shù)介質(zhì)損耗測試系統(tǒng)由S916測試裝置(夾具)、LJD介電常數(shù)測試主機、組成。依據(jù)國標(biāo)GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標(biāo)ASTM D150以及國際電工委員會IEC60250的規(guī)定設(shè)計制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動測量的解決方案。

 

 本設(shè)備適用標(biāo)準(zhǔn)

1 GBT 1409-2006 測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長存內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法

2 GBT 1693-2007 硫化橡膠 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法

3 ASTM-D150-介電常數(shù)測試方法

4 GB9622.9-88/SJT 11043-1996 電子玻璃高頻介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的測試方法


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