【儀表網(wǎng) 行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)】近日，由北京濱松光子技術(shù)股份有限公司起草， TC30(全國核儀器儀表標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì))歸口的國家標(biāo)準(zhǔn)計(jì)劃《閃爍體性能測量方法》征求意見稿已編制完成，現(xiàn)公開征求意見。（注：買儀表，賣儀表就上儀表網(wǎng)！ 看資訊、查訂單…一站式全搞定?。?/strong>
本文件按照GB/T 1.1—2020《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則 第1部分：標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》的規(guī)定起草。本文件代替GB/T 13181—2002《閃爍體性能測量方法》，與GB/T 13181—2002相比，除結(jié)構(gòu)調(diào)整和編輯性改動(dòng)外，主要技術(shù)變化如下：
a) 術(shù)語和定義中，增加了“封裝閃爍體”(見3.5)、“[光輸出的]不均勻性”(見3.11)、“[閃爍體的]α-β比”(見3.13)、“[閃爍體的] 余輝”(見3.20)、“[閃爍體的]符合分辨時(shí)間”(見3.21)、“[閃爍體的]輻射硬度”(見3.22)、“[閃爍體的]自身輻射本底”(見3.23)、“[閃爍體的]β-γ比”(見3.24)、“[閃爍體的] n-γ比”(見3.25)、閃爍體陣列(見3.27)、“[閃爍體陣列的]不均勻性”(見3.28)、“[閃爍體陣列的]光串?dāng)_”(見3.29)；
b) 更改了部分術(shù)語和定義(見第3章，2002年版的第3章)；
c) 修改了對閃爍體標(biāo)準(zhǔn)樣品的要求，刪除了“符合GB/T 4077中的有關(guān)規(guī)定”，將對閃爍體標(biāo)準(zhǔn)樣品尺寸的要求作為一個(gè)新增的資料性附錄(見附錄B，2002版的4.2.3)；
d) 修改了部分測量方法中的一些表述或公式錯(cuò)誤(見5.1、5.2和6.1，2002版的5.1、5.2和第6章)；
e) 增加了“封裝閃爍體的光輸出”和“[閃爍體光輸出的]不均勻性”的測量方法(見5.3和5.4)；
f) 增加了“相對能量轉(zhuǎn)換效率”的脈沖法測量方法(見6.1 )和“α-β比”的測量方法(見6.3)；
g) 增加了 “封裝閃爍體的固有幅度分辨率” 的測量方法(見7.5)；
h) 增加了“余輝”和“符合分辨時(shí)間”的測量方法(見10.2和10.3)；
i) 增加了 “輻照硬度” 的測量方法(見第11章)；
j) 增加了 “自身輻射本底” 的測量方法(見第12章)；
k) 增加了 “β-γ比和n-γ比” 的測量方法(見第13章)；
l) 增加了 “[閃爍體陣列的]不均勻性和光串?dāng)_” 的測量方法(見第15章)。
本文件描述了閃爍體的相對光輸出、不均勻性、相對能量轉(zhuǎn)換效率、α-β比、固有幅度分辨率、閃爍衰減長度、發(fā)射光譜、時(shí)間特性、輻照硬度、自身輻射本底、β-γ比、n-γ比、溫度效應(yīng)以及 [閃爍體陣列的]不均勻性和光串?dāng)_等的測量方法。
本文件適用于常用的各種閃爍體的性能測量。(更多詳情請見附件)
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