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局部放電檢測儀用途 變壓器測試儀

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局部放電檢測儀用途!電氣設(shè)備產(chǎn)生局部放電時(shí),會產(chǎn)生電磁波,電磁波在向外傳播時(shí)會生成一個(gè)暫態(tài)的對地電壓信號。這個(gè)信號的大小與局部放電的激烈程度及放電點(diǎn)的遠(yuǎn)近有直接關(guān)系。可以利用專門的探測器進(jìn)行檢測,這種探測器就是局部放電檢測儀。

工作原理:

局部放電測試原理是高頻脈沖電流測量法(即ERA法)。

試品Ca在試驗(yàn)電壓下產(chǎn)生局部放電時(shí),放電脈沖信號經(jīng)耦合電容Ca 送入輸入單元,由輸入單元拾取得脈沖信號,經(jīng)低噪聲前置放大器放大,濾波放大器選擇所需頻帶及主放大器放大(達(dá)到所需幅值與產(chǎn)生零標(biāo)志脈沖)后,在示波屏的橢圓掃描基線上產(chǎn)生可見的放電脈沖,同時(shí)也送至脈沖峰值表顯示其峰值。

時(shí)間窗單元控制試驗(yàn)電壓每一周內(nèi)脈沖峰值表的工作時(shí)間,并在這段工作時(shí)間內(nèi)將示波屏的相應(yīng)顯示區(qū)加亮,用它可以排除固定相位的干擾。

試驗(yàn)電壓表經(jīng)電容分壓器產(chǎn)生試驗(yàn)電壓過零標(biāo)志訊號,可在示波屏上顯示零標(biāo)脈沖,試驗(yàn)電壓大小由數(shù)字電壓表指示。

名詞術(shù)語:

局部放電檢測儀用途!

1. 局部放電

局部放電是指在絕緣的局部位置放電,它并不構(gòu)成整個(gè)絕緣的貫通性擊穿。它包含三種放電形式:內(nèi)部放電(在介質(zhì)內(nèi)部)、沿面放電(在介質(zhì)表面)、電暈放電(在電極*)。

2. 電荷量q

在試品兩端瞬時(shí)注入一定電荷量,使試品端電壓的變化和由局部放電本身引起的端電壓的變化相同,此注入量即為局部放電的視在電荷量。

3. 視在放電量校準(zhǔn)器

視在放電量校準(zhǔn)器是一標(biāo)準(zhǔn)電量發(fā)生器,試驗(yàn)前它以輸出某固定電量加之試品兩端,模擬該試品在此電量下放電時(shí)局部放電測試儀的響應(yīng),此時(shí)調(diào)整刻度系數(shù),確定局部放電檢測儀的量程,以便在試驗(yàn)時(shí)測量該試品在額定電壓下的視在放電量。因該放電量時(shí)以標(biāo)準(zhǔn)電量發(fā)生器比較后間接測出,而非直接測出,故此放電量稱為“視在放電量”。

校正電量發(fā)生器是測量局部放電時(shí)*的儀器,它的性能參數(shù)直接關(guān)系到測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。

視在放電量校準(zhǔn)器由校準(zhǔn)脈沖電壓發(fā)生器和校準(zhǔn)電容串聯(lián)組成,其參數(shù)主要包括:脈沖波形上升時(shí)間、衰減時(shí)間、內(nèi)阻、脈沖峰值、校準(zhǔn)電容值等。

校準(zhǔn)脈沖電壓發(fā)生器電壓波形上升時(shí)間為從0.1U0到0.9U0的時(shí)間,衰減時(shí)間定義為從峰值下降到0.1U0的時(shí)間。

4.檢測阻抗

檢測阻抗是拾取檢測信號的裝置,在使用中,應(yīng)根據(jù)不同的測試目的,被試品的種類來選擇合適的檢測阻抗,以提高局部放電測量的靈敏度、分辨能力、波形特性及信噪比。

檢測阻抗按調(diào)諧電容范圍分1~12號。(見表1)

5.時(shí)間窗(門單元)

時(shí)間窗是為防止大于局部放電的干擾信號進(jìn)入峰值檢波電路而設(shè)計(jì)的一種電路裝置。因在實(shí)際試驗(yàn)時(shí),尤其是在現(xiàn)場做試驗(yàn)時(shí),不可避免地會引入一些干擾,所以,時(shí)間窗的使用更顯得重要。

時(shí)間窗的工作原理是把橢圓掃描時(shí)基分成導(dǎo)通(加亮區(qū)域)和截止(未加亮區(qū)域)兩部分,通過改變時(shí)間窗的位置和寬度將放電脈沖置于導(dǎo)通(加亮區(qū)域),干擾脈沖置于截止(未加亮區(qū)域),此時(shí)儀表讀數(shù)即為放電脈沖數(shù)值,而干擾則不論大小,皆不會影響放電脈沖數(shù)值。若此時(shí)兩個(gè)時(shí)間窗同時(shí)關(guān)閉,則儀表讀數(shù)為整個(gè)橢圓上脈沖之峰值。

注意事項(xiàng):

局部放電檢測儀用途

1. 在試驗(yàn)開始加壓以前,試驗(yàn)人員必須詳細(xì)而全面地檢查一遍線路,以免線路接錯。測試儀器處的接地線是否與接地體牢固連接,若連接不牢或在準(zhǔn)備工作時(shí)掐頭去尾線被腳踢斷,這將可能引起人身和設(shè)備事故。

2.對于連接線應(yīng)避免將*暴露在外,防止*電暈放電,尤其對于電壓等級較高的局部放電試驗(yàn),必要時(shí)要加粗高壓連接線及加裝防電暈罩,減小因場強(qiáng)過高引起的電暈放電。屏蔽罩不能與試品的瓷裙相接觸。

3. 一般情況下,在試驗(yàn)過程中,被試品在耐壓、預(yù)升壓時(shí)局部放電量都比正常值大很多,此時(shí)儀器的儀表必然會超出滿刻度。為防止儀器損壞,應(yīng)將儀器的增益粗調(diào)旋鈕逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)一檔或更多檔,以不超出滿刻度為標(biāo)準(zhǔn)。當(dāng)電壓降至測量電壓時(shí),再將增益粗調(diào)開關(guān)順時(shí)針旋轉(zhuǎn)一檔或更多檔,以便記錄測量值。

4. 校正電量發(fā)生器校正完畢后,一定要從高壓端脫離,并關(guān)閉電源開關(guān),且儀器的增益細(xì)調(diào)旋鈕不可再調(diào)。因增益粗調(diào)開關(guān)每相鄰兩檔之間的關(guān)系是十倍,且檔位有指示,故升壓后根據(jù)放電量大小,可選擇合適量程。逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)時(shí),每降一檔量程擴(kuò)大十倍;反之,順時(shí)針時(shí),量程縮小十倍。

5. 試驗(yàn)完畢后,應(yīng)對整個(gè)測試系統(tǒng)再進(jìn)行一次復(fù)查校正,驗(yàn)證是否與試驗(yàn)前所校正出的刻度系數(shù)相等,以免測試儀器或其它環(huán)節(jié)在試驗(yàn)過程中發(fā)生故障而使測試結(jié)果不對。

技術(shù)指標(biāo):

1.可測試品的電容量范圍6pF--250μF

2.檢測靈敏度(見表一)

3、放大器頻帶:

①低端:10kHz、20kHz、40kHz任選

②:80kHz、200kHz、300kHz任選

4、放大器增益調(diào)節(jié):粗調(diào)六檔,檔間增益20±1db;細(xì)調(diào)范圍>20db

輸入單元序號

調(diào)諧電容

單位

靈敏度(pC)

(不對稱電路)

1

6-25-100

pF

0.02

2

25-100-400

pF

0.04

3

100-400-1500

pF

0.06

4

400-1500-6000

pF

0.1

5

1500-6000-25000

pF

0.2

6

0.006-0.025-0.1

μF

0.3

7

0.025-0.1-0.4

μF

0.5

8

0.1-0.4-1.5

μF

1

9

0.4-1.5-6.0

μF

1.5

10

1.5-6.0-25

μF

2.5

11

6.0-25-60

μF

5

12

25-60-250

μF

10

7R

電 阻

 

0.5

5、時(shí)間窗:

①窗寬:可調(diào)范圍15°~150°;

②窗位置:每一窗可旋轉(zhuǎn)0°~170°;

③兩個(gè)時(shí)間窗可分別開或同時(shí)開。

6、放電量表:

指針式表頭:對數(shù)刻度1-10-100 誤差<±5%(以滿刻度計(jì))

線性刻度0-1000 誤差<±5%(以滿刻度計(jì))

數(shù)字表頭:以3&frac12;LED數(shù)字表顯示0-100.0 誤差<±5%(以滿刻度計(jì))

7、橢圓時(shí)基:

①頻率50Hz、100Hz、150Hz、200Hz、400Hz

②橢圓旋轉(zhuǎn):以30°為一檔,可作120°旋轉(zhuǎn)。

③顯示方式:橢圓--直線。

④高頻時(shí)基橢圓可按輸入電壓(13∽275V)調(diào)節(jié)至正常大小,其攝取功率<1伏安。

8、試驗(yàn)電壓表:

① 量程:100kV(可擴(kuò)展)

② 顯示:3&frac12;數(shù)字電壓表指示

精度:優(yōu)于±5%(以滿刻度計(jì))9、內(nèi)、外零標(biāo)功能

10、體積:500×500×210 mm

11、重量:約18kg

操作說明:

局部放電檢測儀用途!

1. 根據(jù)試品的容量Ca,耦合電容的大小Ck,選取適合序號的輸入單元。表1中調(diào)諧電容量系指與輸入單元初級繞組并聯(lián)的電容(粗略估算以按試品容量與耦合電容的容量串聯(lián)計(jì)算)。例如:試品容量為120pF,耦合電容量為1000pF,則所需檢測阻抗為有          ≈107,查表1可取2號單元。

輸入單元應(yīng)盡量靠近試品,輸入單元經(jīng)8米長的測量電纜與放大器輸入插座相連。

接觸不良

這種干擾源如圖1所示。其特點(diǎn)是干擾波位于橢圓時(shí)基的零點(diǎn)附近。在正負(fù)半波上對稱出現(xiàn),幅值相差不大。干擾在低電壓時(shí)即出現(xiàn)。電壓增大時(shí),干擾占位區(qū)域也增大,由于疊加效果幅值增大較慢。有時(shí)在電壓達(dá)到某一定數(shù)值后會*消失。

造成這種干擾的原因有:試驗(yàn)回路中金屬對金屬接觸不良,塑料電線半導(dǎo)電屏蔽層中粒子間接觸不良,電容器卷繞鋁箔電極與插接片接觸不良等。

(2)浮動電位物體

波形見圖2,特別是在電壓峰值之前的正負(fù)半波部分出現(xiàn)。等幅值間隙不等。由于余輝,有時(shí)成對的出現(xiàn),有時(shí)圖像有飄動。電壓增加時(shí),根數(shù)增加,間隙縮小,中間值不變。有時(shí)電壓增加到一定值后干擾信號會消失,再降低電壓時(shí),又會重新出現(xiàn)。

起因:金屬或碳質(zhì)導(dǎo)體之間的間隙放電。它可以發(fā)生在試樣上或測試回路中。在兩個(gè)孤立的導(dǎo)電物之間,例如地面上處于浮動電位的多種物體間發(fā)生。

(3)外部*電暈

波形如圖3,特別是僅在試驗(yàn)電壓的一個(gè)半波中出現(xiàn),位于外施電壓的峰值部分,等幅值,等間距。電壓增加時(shí),放電訊號波的根數(shù)增加,但幅值總不變。

起因:高壓電極的*或邊緣對空氣中的放電。若干擾訊號位于橢圓時(shí)基的負(fù)關(guān)周,則*電暈處于高電壓下,若干擾訊號位于時(shí)基橢圓的正半周,則*在接地部分,有時(shí)也可能高壓、接地部分都有*電暈放電,則時(shí)基橢圓的正負(fù)半周就出現(xiàn)兩組訊號。

(4)液體介質(zhì)中的*放電

波形見圖4,特別:在試驗(yàn)電壓正負(fù)半周峰值位置均有一組訊號,同一組訊號等幅值,等間隔,一組中間值較大的訊號先出現(xiàn),隨電壓增加值也增大。一組中間值小的訊號其幅值不隨電壓變化。

起因:在絕緣液體中發(fā)生了*或邊緣電暈放電?;蛞唤M大的訊號出現(xiàn)在正半周,則*位于高壓部分;若它出現(xiàn)在負(fù)半周,則*處于接地部分。

(5)繼電器,接觸器的動作

干擾訊號波形見圖5,特點(diǎn):在時(shí)基橢圓上干擾訊號波形分布不規(guī)則,間隙地出現(xiàn),且同試驗(yàn)電壓大小無關(guān)。

起因:閃光燈,熱繼電器,接觸器和各種火花試驗(yàn)器或有火花放電的記錄器動作時(shí)造成。

(6)可控硅元件

干擾訊號波形見圖6,特點(diǎn):干擾訊號在時(shí)基橢圓上之位置固定,每一元件產(chǎn)生一個(gè)獨(dú)立的高頻脈沖訊號。電路接通,電磁耦合效應(yīng)增強(qiáng)時(shí),訊號幅值增加,也可能發(fā)生波形展寬、相移,從而在時(shí)基上占位增加。

起因:供電網(wǎng)絡(luò)中有可控硅器件在運(yùn)行。干擾的大小同所用可控硅器件的功率直接有關(guān)。

(7)異步電機(jī)

干擾波形見圖7。特點(diǎn):在時(shí)基橢圓上正負(fù)半周波形出現(xiàn)對稱的二組訊號,且沿掃描時(shí)基逆時(shí)針方向移動。

起因:異步電機(jī)運(yùn)行時(shí)產(chǎn)生的干擾訊號耦合到檢測回路中來。

(8)螢光燈

干擾波形見圖8。特點(diǎn):在橢圓時(shí)基上出現(xiàn)欄柵狀幅值大致相等的脈沖,并伴有正負(fù)半波時(shí)對稱出現(xiàn)的二簇脈沖組。

(9)電動機(jī)

干擾波形見圖9。特點(diǎn):沿橢圓時(shí)基均布,等幅值每一個(gè)單個(gè)訊號或“山”字形。

起因:帶換向器的電動機(jī)如風(fēng)扇、電吹風(fēng)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)所發(fā)出的干擾訊號。

(10)無線電干擾

干擾波形見圖10,特點(diǎn):沿整個(gè)時(shí)基橢圓分布的幅值有調(diào)制的高頻正弦波。

起因:高頻電力放大器,無線、廣播話筒等。

(11)中高頻工業(yè)設(shè)備

干擾波形見圖11。特點(diǎn):訊號在時(shí)基橢圓上連續(xù)發(fā)生,但僅在半周內(nèi)出現(xiàn)。

起因:感應(yīng)加熱裝置及頻率接近局部放電檢測頻率的超聲波發(fā)生器等。

(12)磁飽和產(chǎn)生的諧波

干擾波形見圖12。特點(diǎn):在時(shí)基橢圓正負(fù)半波上對稱出現(xiàn)一對諧波振蕩訊號,訊號幅值隨電壓增加而增加,電壓除去,訊號消失。訊號穩(wěn)定,能重復(fù)再現(xiàn)。

起因:試驗(yàn)系統(tǒng)中鐵芯設(shè)備(試驗(yàn)變壓器,并聯(lián)或串聯(lián)電抗器,濾波電抗器,匹配變壓器,調(diào)壓變壓器)磁飽和時(shí)產(chǎn)生的諧振訊號。

(13)電極在電場方向運(yùn)動

干擾波形見圖13。特點(diǎn):僅在時(shí)基橢圓的半周中出現(xiàn)二個(gè)訊號脈沖,它們相對于峰值點(diǎn)對稱分布。起始點(diǎn)該二訊號很靠近,隨電壓增大,二者逐漸分開,且有可能產(chǎn)生新的訊號脈沖對。

起因:電極(尤其是金屬箔電極)在電場作用下運(yùn)動。

(14)介質(zhì)表面放電

干擾訊號波形見圖14。特點(diǎn):放電訊號出現(xiàn)在試驗(yàn)電壓峰值之前。正負(fù)半周中都有,而且幅值基本相等。訊號幅值和位置有隨機(jī)性變化。開始時(shí),放電訊號是可分辨 的,到一定電壓值后便難以分辨。

起因:二個(gè)接觸的絕緣導(dǎo)體之間介質(zhì)表面上的,或介質(zhì)表面上切向場強(qiáng)較高的區(qū)域發(fā)生放電。

(15)漏電痕跡和樹枝

波形特點(diǎn):訊號與一般典型的圖像不符合,波形呈不規(guī)則,不確定的圖像,與電壓有關(guān)。

起因:臟污絕緣中泄漏,絕緣局部過熱致的碳痕跡或電樹枝足道等。

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