工作原理：

局部放電測試原理是高頻脈沖電流測量法(即ERA法)。

試品Ca在試驗電壓下產(chǎn)生局部放電時，放電脈沖信號經(jīng)耦合電容Ca 送入輸入單元，由輸入單元拾取得脈沖信號，經(jīng)低噪聲前置放大器放大，濾波放大器選擇所需頻帶及主放大器放大(達(dá)到所需幅值與產(chǎn)生零標(biāo)志脈沖)后，在示波屏的橢圓掃描基線上產(chǎn)生可見的放電脈沖，同時也送至脈沖峰值表顯示其峰值。

時間窗單元控制試驗電壓每一周內(nèi)脈沖峰值表的工作時間，并在這段工作時間內(nèi)將示波屏的相應(yīng)顯示區(qū)加亮，用它可以排除固定相位的干擾。

試驗電壓表經(jīng)電容分壓器產(chǎn)生試驗電壓過零標(biāo)志訊號，可在示波屏上顯示零標(biāo)脈沖，試驗電壓大小由數(shù)字電壓表指示。

名詞術(shù)語：

局部放電檢測儀供應(yīng)！

1． 局部放電

局部放電是指在絕緣的局部位置放電，它并不構(gòu)成整個絕緣的貫通性擊穿。它包含三種放電形式：內(nèi)部放電（在介質(zhì)內(nèi)部）、沿面放電（在介質(zhì)表面）、電暈放電（在電極*）。

2． 電荷量q

在試品兩端瞬時注入一定電荷量，使試品端電壓的變化和由局部放電本身引起的端電壓的變化相同，此注入量即為局部放電的視在電荷量。

3． 視在放電量校準(zhǔn)器

視在放電量校準(zhǔn)器是一標(biāo)準(zhǔn)電量發(fā)生器，試驗前它以輸出某固定電量加之試品兩端，模擬該試品在此電量下放電時局部放電測試儀的響應(yīng)，此時調(diào)整刻度系數(shù)，確定局部放電檢測儀的量程，以便在試驗時測量該試品在額定電壓下的視在放電量。因該放電量時以標(biāo)準(zhǔn)電量發(fā)生器比較后間接測出，而非直接測出，故此放電量稱為“視在放電量”。

校正電量發(fā)生器是測量局部放電時*的儀器，它的性能參數(shù)直接關(guān)系到測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。

視在放電量校準(zhǔn)器由校準(zhǔn)脈沖電壓發(fā)生器和校準(zhǔn)電容串聯(lián)組成，其參數(shù)主要包括：脈沖波形上升時間、衰減時間、內(nèi)阻、脈沖峰值、校準(zhǔn)電容值等。

校準(zhǔn)脈沖電壓發(fā)生器電壓波形上升時間為從0.1U0到0.9U0的時間，衰減時間定義為從峰值下降到0.1U0的時間。

4．檢測阻抗

檢測阻抗是拾取檢測信號的裝置，在使用中，應(yīng)根據(jù)不同的測試目的，被試品的種類來選擇合適的檢測阻抗，以提高局部放電測量的靈敏度、分辨能力、波形特性及信噪比。

檢測阻抗按調(diào)諧電容范圍分1～12號。（見表1）

5．時間窗(門單元)

時間窗是為防止大于局部放電的干擾信號進(jìn)入峰值檢波電路而設(shè)計的一種電路裝置。因在實際試驗時，尤其是在現(xiàn)場做試驗時，不可避免地會引入一些干擾，所以，時間窗的使用更顯得重要。

時間窗的工作原理是把橢圓掃描時基分成導(dǎo)通(加亮區(qū)域)和截止(未加亮區(qū)域)兩部分,通過改變時間窗的位置和寬度將放電脈沖置于導(dǎo)通(加亮區(qū)域)，干擾脈沖置于截止(未加亮區(qū)域)，此時儀表讀數(shù)即為放電脈沖數(shù)值，而干擾則不論大小，皆不會影響放電脈沖數(shù)值。若此時兩個時間窗同時關(guān)閉，則儀表讀數(shù)為整個橢圓上脈沖之峰值。

操作說明：

局部放電檢測儀供應(yīng)！

1． 根據(jù)試品的容量Ca，耦合電容的大小Ck，選取適合序號的輸入單元。表1中調(diào)諧電容量系指與輸入單元初級繞組并聯(lián)的電容（粗略估算以按試品容量與耦合電容的容量串聯(lián)計算）。例如：試品容量為120ｐF，耦合電容量為1000ｐF，則所需檢測阻抗為有          ≈107，查表1可取2號單元。

輸入單元應(yīng)盡量靠近試品，輸入單元經(jīng)8米長的測量電纜與放大器輸入插座相連。

接觸不良

這種干擾源如圖1所示。其特點是干擾波位于橢圓時基的零點附近。在正負(fù)半波上對稱出現(xiàn)，幅值相差不大。干擾在低電壓時即出現(xiàn)。電壓增大時，干擾占位區(qū)域也增大，由于疊加效果幅值增大較慢。有時在電壓達(dá)到某一定數(shù)值后會*消失。

造成這種干擾的原因有：試驗回路中金屬對金屬接觸不良，塑料電線半導(dǎo)電屏蔽層中粒子間接觸不良，電容器卷繞鋁箔電極與插接片接觸不良等。

（2）浮動電位物體

波形見圖2，特別是在電壓峰值之前的正負(fù)半波部分出現(xiàn)。等幅值間隙不等。由于余輝，有時成對的出現(xiàn)，有時圖像有飄動。電壓增加時，根數(shù)增加，間隙縮小，中間值不變。有時電壓增加到一定值后干擾信號會消失，再降低電壓時，又會重新出現(xiàn)。

起因：金屬或碳質(zhì)導(dǎo)體之間的間隙放電。它可以發(fā)生在試樣上或測試回路中。在兩個孤立的導(dǎo)電物之間，例如地面上處于浮動電位的多種物體間發(fā)生。

（3）外部*電暈

波形如圖3，特別是僅在試驗電壓的一個半波中出現(xiàn)，位于外施電壓的峰值部分，等幅值，等間距。電壓增加時，放電訊號波的根數(shù)增加，但幅值總不變。

起因：高壓電極的*或邊緣對空氣中的放電。若干擾訊號位于橢圓時基的負(fù)關(guān)周，則*電暈處于高電壓下，若干擾訊號位于時基橢圓的正半周，則*在接地部分，有時也可能高壓、接地部分都有*電暈放電，則時基橢圓的正負(fù)半周就出現(xiàn)兩組訊號。

（4）液體介質(zhì)中的*放電

波形見圖4，特別：在試驗電壓正負(fù)半周峰值位置均有一組訊號，同一組訊號等幅值，等間隔，一組中間值較大的訊號先出現(xiàn)，隨電壓增加值也增大。一組中間值小的訊號其幅值不隨電壓變化。

起因：在絕緣液體中發(fā)生了*或邊緣電暈放電。或一組大的訊號出現(xiàn)在正半周，則*位于高壓部分；若它出現(xiàn)在負(fù)半周，則*處于接地部分。

（5）繼電器，接觸器的動作

干擾訊號波形見圖5，特點：在時基橢圓上干擾訊號波形分布不規(guī)則，間隙地出現(xiàn)，且同試驗電壓大小無關(guān)。

起因：閃光燈，熱繼電器，接觸器和各種火花試驗器或有火花放電的記錄器動作時造成。

（6）可控硅元件

干擾訊號波形見圖6，特點：干擾訊號在時基橢圓上之位置固定，每一元件產(chǎn)生一個獨立的高頻脈沖訊號。電路接通，電磁耦合效應(yīng)增強(qiáng)時，訊號幅值增加，也可能發(fā)生波形展寬、相移，從而在時基上占位增加。

起因：供電網(wǎng)絡(luò)中有可控硅器件在運行。干擾的大小同所用可控硅器件的功率直接有關(guān)。

（7）異步電機(jī)

干擾波形見圖7。特點：在時基橢圓上正負(fù)半周波形出現(xiàn)對稱的二組訊號，且沿掃描時基逆時針方向移動。

起因：異步電機(jī)運行時產(chǎn)生的干擾訊號耦合到檢測回路中來。

（8）螢光燈

干擾波形見圖8。特點：在橢圓時基上出現(xiàn)欄柵狀幅值大致相等的脈沖，并伴有正負(fù)半波時對稱出現(xiàn)的二簇脈沖組。

（9）電動機(jī)

干擾波形見圖9。特點：沿橢圓時基均布，等幅值每一個單個訊號或“山”字形。

起因：帶換向器的電動機(jī)如風(fēng)扇、電吹風(fēng)運轉(zhuǎn)時所發(fā)出的干擾訊號。

（10）無線電干擾

干擾波形見圖10，特點：沿整個時基橢圓分布的幅值有調(diào)制的高頻正弦波。

起因：高頻電力放大器，無線、廣播話筒等。

（11）中高頻工業(yè)設(shè)備

干擾波形見圖11。特點：訊號在時基橢圓上連續(xù)發(fā)生，但僅在半周內(nèi)出現(xiàn)。

起因：感應(yīng)加熱裝置及頻率接近局部放電檢測頻率的超聲波發(fā)生器等。

（12）磁飽和產(chǎn)生的諧波

干擾波形見圖12。特點：在時基橢圓正負(fù)半波上對稱出現(xiàn)一對諧波振蕩訊號，訊號幅值隨電壓增加而增加，電壓除去，訊號消失。訊號穩(wěn)定，能重復(fù)再現(xiàn)。

起因：試驗系統(tǒng)中鐵芯設(shè)備（試驗變壓器，并聯(lián)或串聯(lián)電抗器，濾波電抗器，匹配變壓器，調(diào)壓變壓器）磁飽和時產(chǎn)生的諧振訊號。

（13）電極在電場方向運動

干擾波形見圖13。特點：僅在時基橢圓的半周中出現(xiàn)二個訊號脈沖，它們相對于峰值點對稱分布。起始點該二訊號很靠近，隨電壓增大，二者逐漸分開，且有可能產(chǎn)生新的訊號脈沖對。

起因：電極（尤其是金屬箔電極）在電場作用下運動。

（14）介質(zhì)表面放電

干擾訊號波形見圖14。特點：放電訊號出現(xiàn)在試驗電壓峰值之前。正負(fù)半周中都有，而且幅值基本相等。訊號幅值和位置有隨機(jī)性變化。開始時，放電訊號是可分辨　的，到一定電壓值后便難以分辨。

起因：二個接觸的絕緣導(dǎo)體之間介質(zhì)表面上的，或介質(zhì)表面上切向場強(qiáng)較高的區(qū)域發(fā)生放電。

（15）漏電痕跡和樹枝

波形特點：訊號與一般典型的圖像不符合，波形呈不規(guī)則，不確定的圖像，與電壓有關(guān)。

起因：臟污絕緣中泄漏，絕緣局部過熱致的碳痕跡或電樹枝足道等。

注意事項：

局部放電檢測儀供應(yīng)！

1. 在試驗開始加壓以前，試驗人員必須詳細(xì)而全面地檢查一遍線路，以免線路接錯。測試儀器處的接地線是否與接地體牢固連接，若連接不牢或在準(zhǔn)備工作時掐頭去尾線被腳踢斷，這將可能引起人身和設(shè)備事故。

2．對于連接線應(yīng)避免將*暴露在外，防止*電暈放電，尤其對于電壓等級較高的局部放電試驗，必要時要加粗高壓連接線及加裝防電暈罩，減小因場強(qiáng)過高引起的電暈放電。屏蔽罩不能與試品的瓷裙相接觸。

3. 一般情況下，在試驗過程中，被試品在耐壓、預(yù)升壓時局部放電量都比正常值大很多，此時儀器的儀表必然會超出滿刻度。為防止儀器損壞，應(yīng)將儀器的增益粗調(diào)旋鈕逆時針旋轉(zhuǎn)一檔或更多檔，以不超出滿刻度為標(biāo)準(zhǔn)。當(dāng)電壓降至測量電壓時，再將增益粗調(diào)開關(guān)順時針旋轉(zhuǎn)一檔或更多檔，以便記錄測量值。

4. 校正電量發(fā)生器校正完畢后，一定要從高壓端脫離，并關(guān)閉電源開關(guān)，且儀器的增益細(xì)調(diào)旋鈕不可再調(diào)。因增益粗調(diào)開關(guān)每相鄰兩檔之間的關(guān)系是十倍，且檔位有指示，故升壓后根據(jù)放電量大小，可選擇合適量程。逆時針旋轉(zhuǎn)時，每降一檔量程擴(kuò)大十倍；反之，順時針時，量程縮小十倍。

5. 試驗完畢后，應(yīng)對整個測試系統(tǒng)再進(jìn)行一次復(fù)查校正，驗證是否與試驗前所校正出的刻度系數(shù)相等，以免測試儀器或其它環(huán)節(jié)在試驗過程中發(fā)生故障而使測試結(jié)果不對。

技術(shù)指標(biāo)：

1.可測試品的電容量范圍6pF--250μF

2.檢測靈敏度(見表一)

3、放大器頻帶:

①低端:10kHz、20kHz、40kHz任選

②:80kHz、200kHz、300kHz任選

4、放大器增益調(diào)節(jié):粗調(diào)六檔，檔間增益20±1db;細(xì)調(diào)范圍>20db

5、時間窗:

①窗寬:可調(diào)范圍15°~150°;

②窗位置:每一窗可旋轉(zhuǎn)0°~170°;

③兩個時間窗可分別開或同時開。

6、放電量表:

指針式表頭:對數(shù)刻度1-10-100 誤差<±5%(以滿刻度計)

線性刻度0-1000 誤差<±5%(以滿刻度計)

數(shù)字表頭:以3&frac12;LED數(shù)字表顯示0-100.0 誤差<±5%(以滿刻度計)

7、橢圓時基:

①頻率50Hz、100Hz、150Hz、200Hz、400Hz

②橢圓旋轉(zhuǎn):以30°為一檔，可作120°旋轉(zhuǎn)。

③顯示方式:橢圓--直線。

④高頻時基橢圓可按輸入電壓(13∽275V)調(diào)節(jié)至正常大小，其攝取功率<1伏安。

8、試驗電壓表:

① 量程:100kV(可擴(kuò)展)

② 顯示:3&frac12;數(shù)字電壓表指示

精度:優(yōu)于±5%(以滿刻度計)9、內(nèi)、外零標(biāo)功能

10、體積:500×500×210 mm

11、重量:約18kg