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　　FI-IR光譜儀的測量對象是呈原子狀態(tài)的金屬元素和部分非金屬元素，是由待測元素?zé)舭l(fā)出的特征譜線通過供試品經(jīng)原子化產(chǎn)生的原子蒸氣時，被蒸氣中待測元素的基態(tài)原子所吸收，通過測定輻射光強度減弱的程度，求出供試品中待測元素的含量。
 

　　對FI-IR光譜儀射線強度有影響的因素是什么呢?定量分析是以熒光x光線的強度為根據(jù)的，影響FI-IR光譜儀射線強度的因素會影響分析的精確度，以下是主要兩大影響因素：
 

　　一、基體效應(yīng):
 

　　基體效應(yīng)包含吸收效應(yīng)及加強效應(yīng)。
 

　　吸收效應(yīng)包含基材對入射x光線的吸收及對熒光x光線的吸收。由于用射線激發(fā)試品時，不只是作用于試品表層并且能穿透相應(yīng)的厚度進入試品里面，并且試品里面分析元素形成的熒光x光線，也必須穿過相應(yīng)厚度的試品才可以射出。在穿透過程中，這二種x光線都會因基材元素的吸收而使射線強度減弱，射線減弱會影響對分析元素的激發(fā)效率。
 

　　假如入射x光線使基材元素激發(fā)所形成的熒光x光線的波長略短于分析元素的吸收邊，它會使分析元素形成二次熒光x光線，進而使分析元素的熒光x光線強度加強，這就是基材的加強效應(yīng)。
 

　　假如吸收效應(yīng)占主導(dǎo)作用，則分析結(jié)果稍低，假如加強效應(yīng)占主導(dǎo)作用，則分析結(jié)果較高。
 

　　二、不均勻效應(yīng):
 

　　不均勻效應(yīng)就是指試品顆粒大小不均勻及試品表層光潔度對熒光x光線強度的影響。對粉末試品，大顆粒吸收效應(yīng)強，小顆粒吸收效應(yīng)弱，因而，要求顆粒粒度盡可能小一些，以減少對x光線的吸收。測短波x光線時，要求粒度在250目以上，測量波長超過0.2nm的長波x射線時，則粒度要求在400目以上。
 

　　固體塊狀試樣一定要磨平拋光，粉末試樣要壓緊并使表層平滑。粗糙表層會使熒光x光線的強度明顯下降。測量短波x光線時，光潔度在1005m左右，測量長波x光線時，光潔度為20-50Mm。