什么是低電阻測(cè)試？

通常，電氣測(cè)試行業(yè)中的低電阻是指任何低于 1 歐姆的電阻值。

現(xiàn)在，如果這對(duì)您來(lái)說(shuō)是一個(gè)新概念，您可能會(huì)認(rèn)為 1 歐姆已經(jīng)很低了。我們?cè)趺纯赡芙档酶?？相信我們，低?1 ohm 的值是整個(gè)世界。 

要測(cè)量低電阻，您需要具有非常高的精度和足夠高的測(cè)試電流的儀器。這些是不可協(xié)商的要求。通常，對(duì)于測(cè)試電流，任何大于 100 mA 至 600 A 的電流就足夠了。

低電阻測(cè)試如何工作？

好吧，您的基本低電阻歐姆表是帶有電流和電位端子的四端子測(cè)試儀。如果您已經(jīng)熟悉低電阻測(cè)試，您就會(huì)知道它使用開(kāi)爾文電橋技術(shù)。

電流探針通常會(huì)穿過(guò)測(cè)試項(xiàng)目的兩端，因此您可以通過(guò)被測(cè)項(xiàng)目注入測(cè)試電流，而電位探針則連接在兩端。查看下面的圖片以獲得更好的視覺(jué)效果。在本例中，我們查看電纜接頭上的電壓降，因?yàn)檫@通常是一個(gè)潛在的問(wèn)題區(qū)域。使用電流和電壓參數(shù)，儀器可以計(jì)算電阻——這要?dú)w功于歐姆定律。

應(yīng)該如何設(shè)置探頭？

你很幸運(yùn)，我們有這方面的規(guī)定！為了在數(shù)據(jù)庫(kù)中輸入結(jié)果的最大精度，或者如果您與第三方打交道，電位和電流探頭的間距應(yīng)為測(cè)試項(xiàng)目周長(zhǎng)的 1.5 倍。

如果您只是想找出問(wèn)題或運(yùn)行通過(guò)/不通過(guò)測(cè)試，請(qǐng)記住，您可能不一定需要遵循此規(guī)則。但是，這總是一個(gè)很好的建議。

哪些參數(shù)會(huì)影響低電阻測(cè)量？

真的很棒的問(wèn)題。有很多因素會(huì)使低電阻測(cè)量變得具有挑戰(zhàn)性，包括：溫度、噪聲比和感應(yīng)電流、熱電動(dòng)勢(shì)、污染和熱點(diǎn)效應(yīng)。不過(guò)不用擔(dān)心，我們將告訴您如何消除這些影響因素中的每一個(gè)。

讓我們從溫度開(kāi)始。溫度對(duì)電阻有相當(dāng)大的影響。通常，隨著溫度升高，電阻也會(huì)升高——反之亦然。因此，如果您要制作報(bào)告或保存數(shù)據(jù)庫(kù)，則需要調(diào)整到一個(gè)共同的溫度。通常，好的設(shè)備和軟件會(huì)內(nèi)置溫度校正公式，但如果沒(méi)有，您可以自己計(jì)算。我們已經(jīng)包含了下面的公式，以防萬(wàn)一您感興趣。順便說(shuō)一下，如果你不修正溫度，你的數(shù)據(jù)可能會(huì)出現(xiàn)巨大的差異，僅僅因?yàn)樘鞖庾兓?，相隔幾天。因此，您可能?huì)認(rèn)為存在問(wèn)題，但實(shí)際上并沒(méi)有。那永遠(yuǎn)都不好。 

接下來(lái)，噪音。對(duì)于低電阻測(cè)量，噪聲是一個(gè)特別重要的因素，尤其是當(dāng)您在現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行測(cè)試時(shí)。不過(guò)，如果您增加測(cè)試電流，通?？梢越档驮肼?，因此這始終是一個(gè)不錯(cuò)的選擇。一個(gè)好的測(cè)試儀通常會(huì)告訴您噪音是否也會(huì)影響您的結(jié)果。

當(dāng)您連接兩種不同的導(dǎo)電材料時(shí)（例如在斷路器中），您可能會(huì)遇到熱電動(dòng)勢(shì)。例如，如果您連接銅和鎳，您可能會(huì)看到高達(dá) 400% 的錯(cuò)誤。這是一個(gè)大問(wèn)題。幸運(yùn)的是，與噪聲一樣，如果您有能力增加電流，也可以顯著降低這種潛在的錯(cuò)誤。

污染是另一個(gè)需要處理的因素，因?yàn)槟幚淼臏y(cè)試表面在使用中或閑置時(shí)總是有被污染的風(fēng)險(xiǎn)。一個(gè)實(shí)際的例子是斷路器觸點(diǎn)，因?yàn)槟Ｍ|點(diǎn)之間幾乎沒(méi)有電阻。然而，當(dāng)保持開(kāi)放一段時(shí)間時(shí)，會(huì)形成氧化物。與上述因素一樣，增加電流可以通過(guò)真正突破污染來(lái)改善您的結(jié)果。

最后，熱點(diǎn)。一些甚至可能處于相對(duì)良好狀態(tài)的測(cè)試物品有一些金屬已經(jīng)磨損的斑點(diǎn)，從而造成斷裂。連續(xù)性測(cè)試不會(huì)揭示問(wèn)題，但在運(yùn)行應(yīng)用程序時(shí)，您會(huì)開(kāi)始發(fā)現(xiàn)問(wèn)題。幸運(yùn)的是，通過(guò)進(jìn)行低電阻測(cè)試，您可以發(fā)現(xiàn)這些熱點(diǎn)。