Spot View^®亞微米級表面檢測

美國REMSPEC的Spot View^®產(chǎn)品獲得了美國R&D 100 設計大獎。Spot View^®是一種靈敏度非常高的表面分析技術(shù)，檢測限可以達到0.3 μg/cm²。Spot View^®包含配備斯特林制冷器的MCT檢測器，整個系統(tǒng)處于密閉狀態(tài)。Spot View^®配備有3米長的光纖電纜，從而可以在很多場所自如使用。操作軟件系統(tǒng)符合美國藥典 21 CFR Part 11要求。諸如制藥行業(yè)的反應釜或者計算機的硬盤的表面分析，可以選用手持式的檢測頭，可以在不受清洗溶劑的干擾下，準確測試殘留的APIs活性組分的含量。