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| 產(chǎn)地 | 進(jìn)口 | 加工定制 | 是 |
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進(jìn)口精密智能高低溫試驗(yàn)箱測試要求
進(jìn)口精密智能高低溫試驗(yàn)箱測試要求
產(chǎn)品簡介：
高低溫試驗(yàn)箱該設(shè)對電子電工、汽車摩托、航空航天、船舶兵器、高等院校、科研單位等相關(guān)產(chǎn)品的零部件及材料在高、低溫（交變）循環(huán)變化的情況下，檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)。該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對產(chǎn)品按照國家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、條件下，對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)。
設(shè)備執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)及試驗(yàn)方法：
1、GB10586-89低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
2、GB/T10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
3、GB10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
4、GB11158 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
5、GB2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法
6、GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：高溫試驗(yàn)方法
7、GJB150.3-86設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 高溫試驗(yàn)
8、GJB150.4-86設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 低溫試驗(yàn)
9、GB/T2423.22-2001 溫度變化試驗(yàn)方法
10、IEC60068-2-1.1990 低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法
11、IEC60068-2-2.1974 高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法
注：產(chǎn)品具體參數(shù)細(xì)節(jié)及優(yōu)惠價(jià)格可詳談；另可根據(jù)客戶需求進(jìn)行定制
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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